聚焦离子束产品是材料研发从 “经验驱动” 向 “数据驱动” 转型的核心工具，在材料科学、生命科学、工业检测、半导体失效分析等领域发挥着不可替代的作用，而高质量表征、样品制备及三维重构正是其广泛而核心的应用场景。  蔡司持续深化本土化战略，从中国市场出发，为满足科研本土化需求，推出全新的聚焦离子束扫描电镜Crossbeam 330。Crossbeam 330专为高质量表征、样品制备等核心场景量身打造，通过深度整合电子镜筒与离子镜筒，全面覆盖高质量的成像/截面分析、TEM样品制备、微纳加工、3D表征等应用需求。特别设计的无漏磁镜筒与镜筒内加减速技术，可轻松适配有磁、不导电等复杂样品，无需复杂预处理，并在加工过程中可实时监控，实现高分辨表征与精确加工。
 
三大特长：
01
“强” 表征：经典Gemini电子光学系统带来的高质量成像和全面样品兼容性，让您可以在FIB里获得媲美高端SEM的成像体验

 
02
“快” 制备：良好表征能力与高通量离子枪搭配，可以实现亚表面结构的快速截面样品制备和高质量表征

 
03
“易” TEM：卓越的离子束性能确保轻松制备高质量的TEM薄片样品；搭载最新开发的自动化流程和易用软件可以大幅减少TEM薄片样品制备的挑战。

 
从宏观的整体分析到微观机理的深度探究，前沿研究正朝着跨尺度、多维度的方向飞速发展，复杂且系统的表征需求已成为科研突破与工业创新中的核心特点，也带来了数据割裂、多设备操作繁琐、分析流程碎片化等现实挑战。
 
Crossbeam 330可无缝融入蔡司跨尺度、多模态综合表征解决方案，深度联动光学显微镜、X射线显微镜等不同设备的独特表征优势，自动化的实现从厘米尺度到纳米尺度的ROI连续表征和多模态分析，打破设备间的技术壁垒，系统性的解决复杂研究需求。
 
无缝融入多尺度研究，系统性解决复杂研究需求：  X射线显微镜和聚焦离子束扫描电镜（ XRM-FIB）关联流程，实现电池污染物的定位、暴露、表征与分析
 
全新蔡司聚焦离子束扫描电镜 Crossbeam 330 凭借其优秀的成像与样品制备能力、更智能化的操作流程以及多模态集成平台，为新材料、金属、新能源、地球科学、电子半导体和生命科学等前沿领域提供高效、可靠的一站式表征与加工解决方案，助您实现更高水平的科研突破与产业升级。