德国非接触方块电阻测试仪样机限时体验活动开始啦
2026-01-07 来源:本站 点击次数:111新机来袭！德国非接触方块电阻测试仪样机限时体验
EddyCus® lab 2020 系列方块电阻测试仪样机是一款台式实验系统，它采用涡流技术，完美替代四探针方案，用于非接触式单点测量导电薄膜的金属层厚度和方块电阻。它能够快速、精确地测量zui大200 x 200 mm²（8 x 8英寸）样品，并支持多种材料，包括薄金属层、晶圆和导电聚合物等材料。
非接触式单点方块电阻测试仪提供了一种现代、无接触的传统四点探头（4PP）及其他接触式测量方法的替代方案。无需物理接触，无需表面准备，且不受封装或表面粗糙度的影响。
lab 2020 系列方块电阻测试仪能够测量多个参数。方块电阻与金属层厚度、发射率和电阻率相关。只要材料性质明确，所有这些参数都可以高精度测量。
测量参数：
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金属厚度(nm, um)
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方块电阻(Ohm/sq)
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发射率
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电导率/电阻率(mOhm·cm)
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电各向异性(%)
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重量 (g/m’) 和烘干状态 (%)
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渗透性(H/m) Beta
四探针传统方法对比
| 对比维度 | 四探针测试 | 非接触电涡流测试（EddyCus） |
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方案 |
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| 接触方式 | 触点式测量，触点质量影响结果 | 非接触式，实时无损 |
| 测量范围 | 单点测量，部分支持Mapping成像 | 高分辨率Mapping成像，支持在线过程控制 |
| 对样品影响 | 可能损坏敏感面，无法测量封装后薄膜 | 对敏感膜无伤害或伪影，可测封装膜层和多层膜系统 |
| 测量类型 | 仅支持单点方块电阻测试 | 支持多种膜层与系统测量 |
| 探头耐久性 | 探头随时间磨损 | 无磨损，使用寿命长 |
| 适用场景 | 适用于部分简单薄膜测量 | 适用于触摸型敏感层及多层膜系统等精密场景 |
Mapping图
应用场景
导电薄膜
触摸面板
导电纺织品
智能玻璃
电池电极
各类晶圆等
样机设备适配参数
| 基板面积 | 8 inch / 204 mm × 204 mm（三面开放） |
| zui大样本厚度 / 传感器间隙 | 3 / 5 / 10 / 25 mm（由zui厚的样本确定） |
| 方阻范围 | 0.001 – 3,000 Ω/sq |
| 方阻准确性/偏差 | ±1 – 3% |
| 方阻重复性 (2σ) | <0.3 – 3% |
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金属厚度范围与精度 |
低：1 – 10 nm；精度 2 – 5 % |
| 标准：10 – 1,000 nm；精度 1 – 3 % | |
| 高：1 – 100 μm；精度 0.5 – 3 % | |
| （精度受设置及金属类电导率影响） | |
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电阻率测量 |
3 mm线圈：1 – 100 mΩ·cm；精度 < 3%，重复性 < 0.3% |
| 9 mm线圈：1 – 1,000 mΩ·cm；精度 < 5%，重复性 < 2% | |
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薄层电阻测量 |
3 mm线圈：0.01 – 10 Ω/sq；精度 1 – 3%，重复性 < 1% |
| 9 mm线圈：0.01 – 100 Ω/sq；精度 < 3%，重复性 < 0.3% | |
| 设备尺寸(宽 × 高 × 深) | 11.4" × 5.5" × 17.5" / 290 mm × 140 mm × 445 mm |
| 设备重量 | 10 kg |
设备控制和软件
了解更多非接触方块电阻测试仪详情，请访问上海昊量光电的官方网页：
https://www.auniontech.com/three-level-352.html
上海昊量光电是德国EddyCus® lab 2020 系列的中国代理商，新引进的方块电阻测试仪样机现已开放预约！诚邀各领域研发、质检与生产单位参与体验，亲身体验非接触式测量的精准与高效。
体验时间：即日起至2026年2月10日
体验形式：寄样测试（上门测试限部分地区）
预约联系：
工业市场：请发送邮件至xinyan-yang@auniontech.com，或致电 13162431333
科研市场：请发送邮件至yongyan-xu@auniontech.com，或致电 13122134000
更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电
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