爱建纳米公司STM介绍
2000-11-12 来源:本站 点击次数:9145
上海爱建纳米科技发展有限公司是一家专业从事纳米科技研究开发的民营高技术企业。公司注册在东海之滨享有“东方明珠”美誉的上海浦东张江高科技园区，拥有一个由国内外专家组成的顾问班子以及由一批朝气蓬勃的年轻人组成的技术开发、经营、管理的队伍。
公司研制开发的基于DSP数字控制的扫描探针显微镜（SPM），其主要技术指标已达到国际先进水平。公司目前生产的扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM），图像清晰，性能稳定；专为教学实验设计的NanoView 2000型扫描隧道显微镜（STM），配有相应的实验教材，操作简便、稳定可靠；对于科研型、工业型扫描探针显微镜（SPM），公司有能力按照客户的科研生产需要，设计制造专用的SPM系统。公司愿同客户合作，共同完成科研项目及新的研究方向的开发。
公司开发的基于Internet的STM远程控制系统，已实现了在上海通过因特网操纵北京的SPM仪器，在上海实时获得良好的北京样品原子图像。该成果已被国家科学技术部和中国科学院选定为中德技术合作、交流的五个重大项目之一。
公司在国际互联网上首次创办了网上纳米杂志《iNano》()，专门介绍纳米科技的有关论文、纳米科技的最新发展，为关注纳米科技的机构及个人提供一条信息流通渠道。本公司秉承“以人为本、尊重人才、不断创新”的宗旨，竭诚欢迎海内外人士和机构加盟合作，共同促进中国纳米科技的发展。
Shanghai AJ Nanoscience Co., Ltd. is a hi-tech enterprise registered at Zhangjiang Hi-tech Park in Pudong, Shanghai, engaging in the research and development of nanoscopic devices. Supported by a strong scientific advisory panel including several leading experts in China and aboard, the company is owned, organized and managed by a team of energetic young scientists.
The products, NanoView series SPMs, are based on the DSP control technique. Their main technical specifications reach international lever. NanoView series SPMs can provide high spatial resolution, good stability, and quick examination. The NanoView 2000 STMs designed for classroom teaching and practicing use are easy to maintain and easy to use. Other models for scientific research and industrial applications can be custom-made for specific demands.
AJ has made good progresses towards developing remote-control STM systems. We are now able to operate STM in Beijing through Internet in Shanghai and get on-line images in Shanghai. The Ministry of Science and Technology and Chinese Academy of Sciences designated this as one of five biggest cooperation projects between Germany and China.
AJ is also publishing the first Internet magazine on nanoscience?/FONT>iNano (). The purpose is to collect information concerning nanotechnology, to report new discoveries and new developments, and to provide a platform for interactions between organizations and scientists, China and aboard, research institutes and industrial groups. We welcome any comments and suggestions to promote the development of nanotechnology, especially in China.
NanoView 2000教学型STM
NanoView 2000型扫描隧道显微镜（STM）性能稳定，分辨率高，能在一般实验环境下方便、稳定地得到高序石墨（HOPG）表面原子图像；仪器的扫描范围大，用同一扫描管既可进行小范围扫描以获得原子图像，又可进行较大范围的扫描来进行样品整体形貌的分析。它适用于光栅、纳米团簇等样品，能满足多种实验教学内容的需要；仪器的软件系统采用WINDOWS98操作平台，图像处理功能强。
产品主要技术指标：
样品尺寸：φ10mm
扫描范围：3μm×3μm
分 辨 率： XY方向1?，Z方向0.1?，高序石墨（HOPG）常规原子分辨
针尖驱近行程及精度：行程>10mm，精度<0.1μm，步进马达自动驱进
悬吊式抗震装置
采用DSP数字控制系统，全部采用16位 DAC，高压±100V输出
扫描速度： 最快5000点/秒
PC机与控制箱RS232接口
Windows98界面,配合相应教材
扫描模式：恒流模式、恒高模式、I梀曲线、I梈曲线
扫描方式：连续扫描,可改变扫描方向
采样数： 256点/线
计算机离线处理：斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作等
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ，泄漏电流<5mA；介电强度：1500V,1分钟电压试验
Nanoview 2000 system for teaching
System Specifications:
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 3μm×3μm
Resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical range (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
Tip engagement: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration isolation: Suspended mode provided
Electronics Module: DSP based control electronics , 16bit DAC
HV output: +100 High Voltage Amplifiers
Scan speed: Maximum 5000 pixels/second
Interface connection: RS232 serial port
Software: Operates under windows 98
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Image capturing features: single and continuous scan
Sample per scan line: 256
Image processing and other offline function: planefit, filter ,smooth，invert ,FFT，zoom and cut，section，3-D display.
NanoView科研型STM/AFM
NanoView科研型STM/AFM是广大科研人员从事纳米科学研究的有力工具。我公司隆重推出NanoView型、NanoViewⅡ型、NanoViewⅢ型SPM产品，该系列产品的外观设计新颖，产品性能优越，仪器操作简便，整机性能领先于国内产品，同时和国外同类产品相比，具有很高的性能价格比，是21世纪发展纳米科技的必备仪器。
主要功能及技术指标：
头部系统
样品尺寸：φ10mm
扫描范围：3μm×3μm
STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常规原子分辨
AFM分辨率：以云母表面晶格为准，XY方向2?，Z方向<0.5?
针尖逼近行程及精度：行程≥10mm，精度≤0.1μm
悬吊式抗震装置
步进马达自动驱近
电子学控制系统
DSP全数字控制
采用16位 DAC
扫描速度：最快5000点/秒
高压放大器动态范围：200V
PC与控制箱RS232接口
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ,泄漏电流<5mA；介电强度：1500V， 1分钟电压试验
软件系统
Windows98界面，提供标准的中文版或英文版菜单和工具条
扫描模式：
STM：恒流模式、恒高模式，可观察I梀曲线和I梈曲线、具备针尖修饰功能
AFM：contact（接触）模式、可观察F梈曲线
采样数： 256点/行
扫描方式：连续扫描,可改变扫描方向
可同时打开两个实时图像窗口，分别对应于两个图像通道
可方便地进行实时控制参数的设置和修改，并可实时地反映到图像窗口中
离线处理软件：包括斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作等功能。
图像格式可转成标准的BMP格式
提供顶视图，线三维，面三维等视图方式
具有常规的图像处理及图像分析功能（FFT 滤波、扫描线噪声消除等）
NanoView system for science & research (STM&AFM)
System Descriptions and Specifications
Scan Head
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 3μm×3μm
STM resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
AFM Resolution:
(△x,△y) : <2?，
Vertical (△z): <0.5?(routine atomic resolution on mica surface)
Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration Isolation: Suspended mode provided
Controller Electronics
DSP based control electronics , 16bit DAC
Scan speed: Maximum 5000 pixels/second
HV output: +100 High Voltage Amplifiers
Interface connection: parallel port
Software
Operates under Windows98
STM
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Tip modification and nano lithography.
● AFM
Scan mode : Contact mode
Spectroscopic modes: F-Z
Sample per scan line: 128、256 or 512
Image capture features: Single and continuous
Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut, section, zoom and 3-D display, BMP export.
NanoViewⅡ科研型STM/AFM
主要功能及技术指标：
头部系统
样品尺寸：φ10mm
扫描范围：6μm×6μm/20μm×20μm（可选）
STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常规原子分辨
AFM分辨率：以云母表面晶格为准，XY方向2?，Z方向<0.5?
针尖逼近行程及精度：行程≥20mm, 精度≤0.1μm
悬吊式抗震装置
步进马达自动驱近
电子学控制系统
DSP全数字控制
采用高速16位 DAC
扫描速度：最快达62500点/秒
高压放大器动态范围：400V
可对压电陶瓷管的扫描过程进行自动校正
开放性结构极易匹配其他品牌SPM的头部系统
高性能DSP支持离线图像处理
PC与控制箱并行接口
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ，泄漏电流<5mA，介电强度：1500V 1分钟电压试验
软件系统
Windows98界面，具有标准的菜单和工具条
扫描模式：
STM：恒流模式、恒高模式，可观察I梀曲线和I梈曲线、具备针尖修饰功能、纳米刻蚀
AFM：contact（接触）模式、可观察F梈曲线
采样数：128、256、512点/行
可同时打开三个实时图像窗口，分别对应于三个图像通道
实时控制参数的设置、修改方便，实时性好，能立即反映到图像窗口中
计算机离线处理： 斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作。
离线部分能同时打开多幅图像
图像格式可转成标准的BMP格式
提供顶视图，线三维，面三维等视图方式
其它图像处理及图像分析功能（FFT滤波、扫描线噪声消除等）
NanoView Ⅱ system for science & research (STM&AFM)
Technology index and function
Scan Head
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm (optional)
STM resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
● AFM Resolution:
(△x,△y) : <2?，
Vertical (△z): <0.5?(routine atomic resolution on mica surface)
Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration isolation: Suspended mode provided
Controller Electronics
DSP based control electronics, 16bit DAC
Scan speed: Maximum 62500 pixels/second
HV output: +200 High Voltage Amplifiers
Interface connection: parallel port
Automatic calibration of piezoelectric scanner
Support for other kinds of SPM head
Software
Operates under Windows98
STM
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Tip modification and nano lithography.
AFM
Scan mode : Contact mode
Spectroscopic modes: F-Z
Sample per scan line: 128、256 or 512
Image capture features: Single and continuous
Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut, section, zoom and 3-D display, BMP export.
NanoViewⅢ科研型STM/AFM
主要功能及技术指标：
头部系统
样品尺寸：φ10mm
具备振动TM 模式，功能类似美国DI公司的Tapping ModeTM
扫描范围：6μm×6μm/20μm×20μm（可选）
STM分辨率： XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常规原子分辨
AFM分辨率：以云母表面晶格为准，XY方向2?，Z方向<0.5?
振动TM模式分辨率：XY方向2?，Z方向<1?
针尖逼近行程及精度：行程≥20mm，精度≤0.1μm，
悬吊式抗震装置
步进马达自动驱近
电子学控制系统
DSP全数字控制
采用高速16 bit DAC
扫描速度：最快达62500点/秒
高压放大器动态范围：400V
自动校正压电陶瓷管扫描
开放性结构极易匹配其他品牌SPM的头部系统
高性能DSP支持离线图像处理
PC与控制箱并行接口
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ，泄漏电流<5mA，介电强度：1500V 1分钟电压试验
软件系统
Window98界面，具备振动TM模式
扫描模式：
STM：恒流模式、恒高模式，可观察I梀曲线和I梈曲线、具备针尖修饰功能、纳米刻蚀
AFM：contact（接触）模式、可观察F梈曲线、摩擦力模式、极化力模式、振动TM模式、磁力模式、静电力模式
采样数：128、256、512点/线
可同时打开三个实时图像窗口，分别对应于三个图像通道
实时控制参数的设置、修改方便，实时性好，能立即反映到图像窗口中
计算机离线处理： 斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作
离线部分能同时打开多幅图像
图像格式可转成标准的BMP格式
提供顶视图，线三维，面三维等视图方式
其它图像处理及图像分析功能（FFT滤波、扫描线噪声消除等）
NanoView Ⅲ system for science & research (STM&AFM)
System Descriptions and Specifications
Scan Head
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm(optional)
STM resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
AFM resolution:
(△x,△y) : <2?，
Vertical (△Z): <0.5?(routine atomic resolution on mica surface)
Vibrating Mode TM (△x,△y) : <2?，
Vertical (△z): <1?
Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration isolation: Suspended mode provided
Controller Electronics
DSP based control electronics, 16bit DAC
Scan speed: Maximum 62500 pixels/second
HV output: +200 High Voltage Amplifiers
Interface connection: parallel port
Automatic calibration of piezoelectric scanner
Support for other kinds of SPM head
Software
Operates under Windows98
STM
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Tip modification and nano lithography.
AFM
Scan mode: Contact Mode, Friction force Mode, Polarization Force Mode, Vibrating Mode, Magnetic Force Mode, Electrostatic Force Mode
Spectroscopic modes: F-Z
Sample per scan line: 128、256 or 512
Image capture features: Single and continuous
Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut, section, zoom and 3-D display, BMP format export.
2000年11月12日
公司研制开发的基于DSP数字控制的扫描探针显微镜（SPM），其主要技术指标已达到国际先进水平。公司目前生产的扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM），图像清晰，性能稳定；专为教学实验设计的NanoView 2000型扫描隧道显微镜（STM），配有相应的实验教材，操作简便、稳定可靠；对于科研型、工业型扫描探针显微镜（SPM），公司有能力按照客户的科研生产需要，设计制造专用的SPM系统。公司愿同客户合作，共同完成科研项目及新的研究方向的开发。
公司开发的基于Internet的STM远程控制系统，已实现了在上海通过因特网操纵北京的SPM仪器，在上海实时获得良好的北京样品原子图像。该成果已被国家科学技术部和中国科学院选定为中德技术合作、交流的五个重大项目之一。
公司在国际互联网上首次创办了网上纳米杂志《iNano》()，专门介绍纳米科技的有关论文、纳米科技的最新发展，为关注纳米科技的机构及个人提供一条信息流通渠道。本公司秉承“以人为本、尊重人才、不断创新”的宗旨，竭诚欢迎海内外人士和机构加盟合作，共同促进中国纳米科技的发展。
Shanghai AJ Nanoscience Co., Ltd. is a hi-tech enterprise registered at Zhangjiang Hi-tech Park in Pudong, Shanghai, engaging in the research and development of nanoscopic devices. Supported by a strong scientific advisory panel including several leading experts in China and aboard, the company is owned, organized and managed by a team of energetic young scientists.
The products, NanoView series SPMs, are based on the DSP control technique. Their main technical specifications reach international lever. NanoView series SPMs can provide high spatial resolution, good stability, and quick examination. The NanoView 2000 STMs designed for classroom teaching and practicing use are easy to maintain and easy to use. Other models for scientific research and industrial applications can be custom-made for specific demands.
AJ has made good progresses towards developing remote-control STM systems. We are now able to operate STM in Beijing through Internet in Shanghai and get on-line images in Shanghai. The Ministry of Science and Technology and Chinese Academy of Sciences designated this as one of five biggest cooperation projects between Germany and China.
AJ is also publishing the first Internet magazine on nanoscience?/FONT>iNano (). The purpose is to collect information concerning nanotechnology, to report new discoveries and new developments, and to provide a platform for interactions between organizations and scientists, China and aboard, research institutes and industrial groups. We welcome any comments and suggestions to promote the development of nanotechnology, especially in China.
NanoView 2000教学型STM
NanoView 2000型扫描隧道显微镜（STM）性能稳定，分辨率高，能在一般实验环境下方便、稳定地得到高序石墨（HOPG）表面原子图像；仪器的扫描范围大，用同一扫描管既可进行小范围扫描以获得原子图像，又可进行较大范围的扫描来进行样品整体形貌的分析。它适用于光栅、纳米团簇等样品，能满足多种实验教学内容的需要；仪器的软件系统采用WINDOWS98操作平台，图像处理功能强。
产品主要技术指标：
样品尺寸：φ10mm
扫描范围：3μm×3μm
分 辨 率： XY方向1?，Z方向0.1?，高序石墨（HOPG）常规原子分辨
针尖驱近行程及精度：行程>10mm，精度<0.1μm，步进马达自动驱进
悬吊式抗震装置
采用DSP数字控制系统，全部采用16位 DAC，高压±100V输出
扫描速度： 最快5000点/秒
PC机与控制箱RS232接口
Windows98界面,配合相应教材
扫描模式：恒流模式、恒高模式、I梀曲线、I梈曲线
扫描方式：连续扫描,可改变扫描方向
采样数： 256点/线
计算机离线处理：斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作等
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ，泄漏电流<5mA；介电强度：1500V,1分钟电压试验
Nanoview 2000 system for teaching
System Specifications:
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 3μm×3μm
Resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical range (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
Tip engagement: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration isolation: Suspended mode provided
Electronics Module: DSP based control electronics , 16bit DAC
HV output: +100 High Voltage Amplifiers
Scan speed: Maximum 5000 pixels/second
Interface connection: RS232 serial port
Software: Operates under windows 98
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Image capturing features: single and continuous scan
Sample per scan line: 256
Image processing and other offline function: planefit, filter ,smooth，invert ,FFT，zoom and cut，section，3-D display.
NanoView科研型STM/AFM
NanoView科研型STM/AFM是广大科研人员从事纳米科学研究的有力工具。我公司隆重推出NanoView型、NanoViewⅡ型、NanoViewⅢ型SPM产品，该系列产品的外观设计新颖，产品性能优越，仪器操作简便，整机性能领先于国内产品，同时和国外同类产品相比，具有很高的性能价格比，是21世纪发展纳米科技的必备仪器。
主要功能及技术指标：
头部系统
样品尺寸：φ10mm
扫描范围：3μm×3μm
STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常规原子分辨
AFM分辨率：以云母表面晶格为准，XY方向2?，Z方向<0.5?
针尖逼近行程及精度：行程≥10mm，精度≤0.1μm
悬吊式抗震装置
步进马达自动驱近
电子学控制系统
DSP全数字控制
采用16位 DAC
扫描速度：最快5000点/秒
高压放大器动态范围：200V
PC与控制箱RS232接口
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ,泄漏电流<5mA；介电强度：1500V， 1分钟电压试验
软件系统
Windows98界面，提供标准的中文版或英文版菜单和工具条
扫描模式：
STM：恒流模式、恒高模式，可观察I梀曲线和I梈曲线、具备针尖修饰功能
AFM：contact（接触）模式、可观察F梈曲线
采样数： 256点/行
扫描方式：连续扫描,可改变扫描方向
可同时打开两个实时图像窗口，分别对应于两个图像通道
可方便地进行实时控制参数的设置和修改，并可实时地反映到图像窗口中
离线处理软件：包括斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作等功能。
图像格式可转成标准的BMP格式
提供顶视图，线三维，面三维等视图方式
具有常规的图像处理及图像分析功能（FFT 滤波、扫描线噪声消除等）
NanoView system for science & research (STM&AFM)
System Descriptions and Specifications
Scan Head
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 3μm×3μm
STM resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
AFM Resolution:
(△x,△y) : <2?，
Vertical (△z): <0.5?(routine atomic resolution on mica surface)
Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration Isolation: Suspended mode provided
Controller Electronics
DSP based control electronics , 16bit DAC
Scan speed: Maximum 5000 pixels/second
HV output: +100 High Voltage Amplifiers
Interface connection: parallel port
Software
Operates under Windows98
STM
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Tip modification and nano lithography.
● AFM
Scan mode : Contact mode
Spectroscopic modes: F-Z
Sample per scan line: 128、256 or 512
Image capture features: Single and continuous
Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut, section, zoom and 3-D display, BMP export.
NanoViewⅡ科研型STM/AFM
主要功能及技术指标：
头部系统
样品尺寸：φ10mm
扫描范围：6μm×6μm/20μm×20μm（可选）
STM分辨率：XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常规原子分辨
AFM分辨率：以云母表面晶格为准，XY方向2?，Z方向<0.5?
针尖逼近行程及精度：行程≥20mm, 精度≤0.1μm
悬吊式抗震装置
步进马达自动驱近
电子学控制系统
DSP全数字控制
采用高速16位 DAC
扫描速度：最快达62500点/秒
高压放大器动态范围：400V
可对压电陶瓷管的扫描过程进行自动校正
开放性结构极易匹配其他品牌SPM的头部系统
高性能DSP支持离线图像处理
PC与控制箱并行接口
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ，泄漏电流<5mA，介电强度：1500V 1分钟电压试验
软件系统
Windows98界面，具有标准的菜单和工具条
扫描模式：
STM：恒流模式、恒高模式，可观察I梀曲线和I梈曲线、具备针尖修饰功能、纳米刻蚀
AFM：contact（接触）模式、可观察F梈曲线
采样数：128、256、512点/行
可同时打开三个实时图像窗口，分别对应于三个图像通道
实时控制参数的设置、修改方便，实时性好，能立即反映到图像窗口中
计算机离线处理： 斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作。
离线部分能同时打开多幅图像
图像格式可转成标准的BMP格式
提供顶视图，线三维，面三维等视图方式
其它图像处理及图像分析功能（FFT滤波、扫描线噪声消除等）
NanoView Ⅱ system for science & research (STM&AFM)
Technology index and function
Scan Head
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm (optional)
STM resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
● AFM Resolution:
(△x,△y) : <2?，
Vertical (△z): <0.5?(routine atomic resolution on mica surface)
Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration isolation: Suspended mode provided
Controller Electronics
DSP based control electronics, 16bit DAC
Scan speed: Maximum 62500 pixels/second
HV output: +200 High Voltage Amplifiers
Interface connection: parallel port
Automatic calibration of piezoelectric scanner
Support for other kinds of SPM head
Software
Operates under Windows98
STM
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Tip modification and nano lithography.
AFM
Scan mode : Contact mode
Spectroscopic modes: F-Z
Sample per scan line: 128、256 or 512
Image capture features: Single and continuous
Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut, section, zoom and 3-D display, BMP export.
NanoViewⅢ科研型STM/AFM
主要功能及技术指标：
头部系统
样品尺寸：φ10mm
具备振动TM 模式，功能类似美国DI公司的Tapping ModeTM
扫描范围：6μm×6μm/20μm×20μm（可选）
STM分辨率： XY方向1?，Z方向0.1?，HOPG常规原子分辨
AFM分辨率：以云母表面晶格为准，XY方向2?，Z方向<0.5?
振动TM模式分辨率：XY方向2?，Z方向<1?
针尖逼近行程及精度：行程≥20mm，精度≤0.1μm，
悬吊式抗震装置
步进马达自动驱近
电子学控制系统
DSP全数字控制
采用高速16 bit DAC
扫描速度：最快达62500点/秒
高压放大器动态范围：400V
自动校正压电陶瓷管扫描
开放性结构极易匹配其他品牌SPM的头部系统
高性能DSP支持离线图像处理
PC与控制箱并行接口
电气防护安全：绝缘电阻>5MΩ，泄漏电流<5mA，介电强度：1500V 1分钟电压试验
软件系统
Window98界面，具备振动TM模式
扫描模式：
STM：恒流模式、恒高模式，可观察I梀曲线和I梈曲线、具备针尖修饰功能、纳米刻蚀
AFM：contact（接触）模式、可观察F梈曲线、摩擦力模式、极化力模式、振动TM模式、磁力模式、静电力模式
采样数：128、256、512点/线
可同时打开三个实时图像窗口，分别对应于三个图像通道
实时控制参数的设置、修改方便，实时性好，能立即反映到图像窗口中
计算机离线处理： 斜面校正，滤波，平滑，反转，FFT，剪切，剖面线，三维显示，浏览，文件操作
离线部分能同时打开多幅图像
图像格式可转成标准的BMP格式
提供顶视图，线三维，面三维等视图方式
其它图像处理及图像分析功能（FFT滤波、扫描线噪声消除等）
NanoView Ⅲ system for science & research (STM&AFM)
System Descriptions and Specifications
Scan Head
Sample size: Maximum 10mm×10mm
Scan scale: Maximum 6μm×6μm or 20μm×20μm(optional)
STM resolution:
(△X , △Y): <1?
Vertical (△Z): <0.1? (routine atomic resolution on HOPG surface)
AFM resolution:
(△x,△y) : <2?，
Vertical (△Z): <0.5?(routine atomic resolution on mica surface)
Vibrating Mode TM (△x,△y) : <2?，
Vertical (△z): <1?
Probe/sample approach: Stepper motor automatic engagement
Move distance>10mm，Accuracy<0.1μm
Vibration isolation: Suspended mode provided
Controller Electronics
DSP based control electronics, 16bit DAC
Scan speed: Maximum 62500 pixels/second
HV output: +200 High Voltage Amplifiers
Interface connection: parallel port
Automatic calibration of piezoelectric scanner
Support for other kinds of SPM head
Software
Operates under Windows98
STM
Scan mode: Constant current mode (CCM), constant height mode (CHM)
Spectroscopic modes: I-V, I-Z
Tip modification and nano lithography.
AFM
Scan mode: Contact Mode, Friction force Mode, Polarization Force Mode, Vibrating Mode, Magnetic Force Mode, Electrostatic Force Mode
Spectroscopic modes: F-Z
Sample per scan line: 128、256 or 512
Image capture features: Single and continuous
Image processing and offline functions: planefit, filter, smooth, invert, FFT, cut, section, zoom and 3-D display, BMP format export.
2000年11月12日
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