简介
这款机型在2000年世行投标仪器的基础上做了大量的改进工作。功能更强,使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌检测功能,隧道电流-针尖偏压(I-V)曲线测量功能,隧道电流-间隙(I-Z)曲线测量功能和针尖修饰功能。
用户还能根据对教学/科研不同的要求,选择3μm-100μm不同范围的扫描器,以及高分辨CCD观测系统和高精度样品X-Y移动平台,使操作更加方便、精确。
同我们所有MicroNano 系列产品一样,这款机型还可以根据用户需要,选购相应的功能模块,将功能扩展至原子力显微镜模式、磁力显微镜模式。
产品技术指标
扫描模式:S TM恒流/恒高模式扫描;隧道电流-针尖偏压(I-V)曲线测量;隧道电流-间隙(I-Z)曲线测量;针尖修饰(脉冲)
样品尺寸:≤Φ10mm
样品厚度:≤5mm
扫描范围:标准配置6μm×6μm
分辨率:X-Y向0.1nm;Z向0.01nm
XYZ控制:双12-bit D/A(相当于20位精度)
数据采样:双12-bit A/D (相当于20位精度)
最大扫描速率:20000 P/S
扫描角度:0~360°
图像采样点:256×256 / 512×512
马达控制:线动螺纹+自动马达,行程<10mm,精度<0.1μm
计算机接口:标准并行口
配套功能强大的MicroNano SPM 2.1软件系统
可选配件
3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm规格扫描器
高分辨CCD观测系统
高精度样品X-Y移动平台
MicroNano AFM-II型原子力显微镜功能模块
MicroNano AFM-III型轻敲模式原子力显微镜功能模块
MicroNano MFM-I型磁力显微镜功能模块
MicroNano SPM 2.1软件系统
功能强大,使用方便,不需要说明书的软件。
采用我公司独创的“所见即所得”视窗界面,不同于通常的菜单和对话框模式的软件,操作非常简单,当前工作状态下用不到的功能会自动隐去,使界面更简洁,避免误操作。
在线实时控制软件
1. 兼容Windows 9X/Windows ME/Windows NT/Windows2000操作系统
2. 同步多通道扫描和数据采集:可同时进行XY扫描更新和同步采集2-4种物理量,并在2-4个图像数据窗口中同时显示。
3. 在实验过程中不仅可以方便地完成形貌扫描,而且可以方便地测量其间的相互作用,并绘出曲线。
4. 可同时打开多个窗口进行数据采集和处理。
5. 可以在扫描过程中随时选择窗口内或窗口外的区域重新扫描。系统会根据新选择的扫描范围自动改变相应的扫描速度。
6. 对扫描范围的失真进行全自动动态修正
离线处理软件
1. 傅立叶滤波、边缘增强、卷积滤波、高斯滤波、局部统计滤波等功能
2. 粒度分析功能
3. 粗糙度分析功能
4. 扫描线消除功能
5. 自动倾斜校正功能
6. 平面拟合校正,可以对大范围扫描时产生的畸变进行校正
7. 二维、三维图象显示,可以任意角度旋转图像
8. 允许用户同时打开多个图象文件操作
9. 历史记录功能,保存图像的物理环境,打开图像后可在上次的环境下继续扫描
10. 图象浏览功能,用户可以浏览整个目录的图形文件缩略图,方便用户检索文件
11. 调色板设置和调色板自适应功能
12. 图像导出和导入功能,可以将图像导出为DI图像文件、TIFF图像文件、JPEG图像文件,可以导入所有已知数据格式的图像文件