电子显微镜

SU9000新型超高分辨冷场发射扫描电镜

基本信息
产品名称:
SU9000新型超高分辨冷场发射扫描电镜
英文名称:
国产/进口:
进口
产地/品牌:
日本/日立
型号:
SU9000
参考报价:
总点击数:
3404
更新日期:
2013-08-05
产品类别:

性能参数

日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜,达到扫描电镜世界最高二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能明显提升,而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。


特点:
1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率:二次电子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. Hitachi专利设计的E×B系统,可以自由控制SE和BSE检测信号。
3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。
4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。
5. STEM的明场像能够调整信号检测角度,明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。
6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

项目
技术指标
二次电子分辨率
0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍)
1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍)
STEM分辨率
0.34nm(加速电压30kV,晶格象)
观测倍率
底片输出
显示器输出
LM模式
80~10,000x
220~25,000x
HM模式
800~3,000,000x
2,200~8,000,000x
样品台
侧插式样品杆
样品移动行程
X
±4.0mm
Y
±2.0mm
Z
±0.3mm
T
±40度
标准样品台
平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH
截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH
专用样品台
截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH
双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH
信号检测器
二次电子探测器
TOP 探测器(选配)
BF/DF 双STEM探测器(选配)

公司简介

天美集团从事分析仪器、生命科学设备及实验室仪器的设计、开发和制造及分销;为科研、教育、检测及生产提供完整可靠的解决方案。近年来天美集团积极拓展国际市场,先后在新加坡、印度、印尼、泰国、越南、美国、英国、法国、德国、瑞士等多个国家设立分支机构。公司亦先后收购了法国Froilabo公司、瑞士Precisa公司、英国Edinburgh Instruments公司等多家海外知名生产企业和布鲁克公司Scion气相、气质及Tekmar顶空产品线,以及上海精科公司天平产品线, 三科等国内制造企业,2021年控股了英国同位素质谱公司(Isotopx),加强了公司产品的多样化。


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