光机产品-光谱测试系统-单色仪-光栅光谱仪
一、LE-SP-ES光量测和发射光谱系统Emission Spectra and Light Source Measurement System
□ 测试各种发光体,如白炽灯、溴钨灯、荧光灯、LED、激光器、等离子体、原子发射、红外光源等的发射光谱分布。
□ 测试各种光源的照度,亮度,光谱辐照度,光谱辐射亮度和色度
主要规格及特色
□ 被测光源的发光光谱范围:380nm~780nm 或200nm~21um (光谱范围根据配置和要求选择)
□ 光谱测试系统由分光部分、探测部分、数据采集处理部分和软件构成
□ 可升级测试照度,亮度,光谱辐射照度,光谱辐射亮度,辐射通量,光通量,色坐标等
□ 全自动测量
□ 可选择单独某个功能模块测试
二 、LE-SP-ART吸收、反射/透射光谱测量系统Absorption,Reflection&Transmission System
应用范围
□ 测试平面光学元件(如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等)、球面光学元件(凹面镜、凸面镜等)和各种材料(溶液、玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等)的吸收、透射/反射光谱。
主要规格及特色
□ 光谱范围: 380~1000nm/600~1200nm(最低200nm,最高3000nm,可选)
□ 波长分辩率: 0.03nm~10nm (由所选波长范围确定)
□ 测试系统高集成度,全自动化的测量
□ 两种专用系统可选,分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试
□ 可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱,样品角度位移范 围:2.5~357.5°,最小角位移:0.01°
□ 测量最大相对误差:<1.0% (平面测试系统); <1.2% (球面测试系统);
□ 校正线性度:99.8%
三 、LE-SP-SPA-ART变角度吸收、反射/透射光谱测量系统Variable-Angle Absorption,Reflection&Transmission System
【本套系统为国内第一套商业化的全自动变角度吸收、透射&反射光谱测量系统】
功能和应用范围
□本系统可用于测试各种具有角度特性的光学元件或材料在不同入射角或不同反射角度的透 射光谱和反射光谱;角度变化自动控制,自动校正;
□本系统还可升级专门用于测试各种色散元件(比如:反射光栅、透射光栅、特种光栅等 等)的衍射效率。测量光栅在不同入射角情况下的衍射效率,并可得到光栅在不同波长的 衍射角度。光栅入射角度、衍射角度均可自由自动控制调整。
主要规格及特色
□系统设计成熟,测试精度高,可靠性好
□入射角可自由控制选择,通过旋转样品改变入射角
□反射角可自由控制选择,通过旋转探测装置改变反射角
□波长范围:200nm~5000nm(光谱范围可选,常用范围:350nm-900nm,200nm-1100nm,200-2500nm等)
□高稳定高亮度光源系统
□优化设计的光路,杂散光小,通光效率高
□超大多功能样品室,便于操作,有效屏蔽杂散光
□自动角度校正功能
□软件自动化控制
□系统扩展性好,方便客户购买基本配置后进行系统升级和功能扩展
□标配功能:可测试各种平面或薄膜光学元件的不同入射角透射和反射光谱。
□扩展功能1:可测试球面、凹面或者非球面光学元件或者器件的不同入射角反射、透射光谱
□扩展功能2:可测试平面光栅的衍射角分布
□扩展功能3:测试凹面光栅的衍射效率
被测样品规格
□光学元件或者材料类型:平面光学元件、器件;各种基底上镀的薄膜材料;生物样品,周期
性结构样品等;
□样品尺寸范围:10mm~68mm;常规尺寸为40mm、60mm、64mm等。特殊尺寸可提供定制。
□样品形状:方形或者圆形
□光栅类型:平面反射光栅为主。如需要测试透射光栅、凹面光栅、特种光栅,需要增加对应的功能 扩展模块。
□其他衍射器件或光学
四、LE-SP-FL荧光光谱测量系统 Fluorescence Photometer
应用范围
□ 测试材料的荧光发射谱和激发谱。荧光检测技术广泛用于材料科学领域(各种发光材料、荧 光粉、半导体材料、稀土材料、激光晶体、激光玻璃等)、生物学领域(量子点荧光标记、 有机荧光染料分子、叶绿素和类胡萝卜素)、生物医学领域(恶性病的荧光诊断)、食品 科学领域和环境科学领域。
主要规格及特色
□ 光谱范围:200-5000nm (可选)
□ 光谱分辨率:0.03-0.1nm (可选)
□ 采用垂直90°光路和特别的光学设计,有效的避免激发光的散射光进入到光谱仪中,
减少了杂散光的影响
□ 选用高灵敏度探测器光电倍增管和TE致冷型铟镓砷探测器或这制冷型红外探测器
□ 可配合锁相放大器和光学斩波器,极大提高了系统的信噪比
□ 激发源:氙灯 (另外有氘灯、汞灯、激光器、X射线等光源可选)
□ 可同时做激发谱及发射谱,对于未知材料提供了更有效的分析
□ 模块化设计,结构灵活,方便升级
五、LE-SP-PL 光致发光PL光谱测试系统(常温和低温)Photoluminescence Measurement System
应用范围
□ 测试半导体材料或其它发光特性材料在激光激发下产生的荧光光谱。常见系统采用紫外或近紫外激 光激发半导体材料(III-V族如GaN等,II-VI族如ZnO、CdTe等)产生荧光,或用可见和红外激光器 激发稀土掺杂的玻璃或晶体材料产生荧光,通过对其荧光光谱的测量,分析该材料的能带结构等特 征。
主要规格及特色
□ 测试光谱范围:200—5000nm(可根据要求选择)
□ 激光器波长:224nm、248nm、266nm、325nm/442nm、488/514nm、532nm、946nm、 1064nm等可选
□ 低温PL测试:采用液氦循环制冷系统或液氮制冷系统对样品制冷,测试样品在低温下的发 光光谱特性,最低可达2K
□ 宽光谱范围全自动光谱扫描
□ 系统由激发光源部分、样品室部分、分光部分、探测部分、信号采集处理部分、软件部分 组成
□ 采用了高通光效率、低杂散光水平的单色仪和优化的光路
□ 采用锁相放大器进行信号的处理,大大的提高了系统的信噪比
□ 系统经过多年技术积累和客户的成功使用经验,具有很高的可靠性
□ 采用模块化设计,使用灵活,便于功能扩展和升级
□ 可实现样品原位测量
□ 可升级做显微的PL光谱测试
□ 可升级做EL电致发光测量
□ 可升级做电场调制光谱
□ 可升级做透射、反射光谱测试
六、LE-SP-SR光电探测器光谱响应度测量系统 Spectral Response Measurement System
应用范围
□本系统专门用于测试光电探测器及各种光电转换材料和器件的光谱响应曲线。针对太阳能 电池领域,可以测试太阳能电池的IPCE和QE。
主要规格及特色
□测量探测器光谱范围:0.2~14um(根据需要选择)
□测量太阳能电池光谱范围:350-1050nm(另外还有400-800nm和300-2000nm可选)
□针对光谱响应测试所专门设计的高精度,自动化扫描的专业测试系统
□系统可选择偏置光系统,用于测量多节太阳能电池的光谱响应
□针对每个客户特殊的光电探测器研究和测试要求,我们的应用工程师可为您量身定制一套能满足您需要的测试系统
□系统由光源部分、分光部分、探测器室部分、光调制部分、微弱信号处理部分、软件部分和电脑部分组成
七、LE-SP-MON系列 连续可调谐单色光源系统UV-VIS-IR Monochromatic Light Source
应用范围
□ 连续可调单色光源用于各种化学、材料、生物、光催化、光电特性材料、光声材料、光谱检测(荧光光谱,QE或IPCE测试等)等研究领域
□ 各种光电器件,比如CCD,CMOS,光电二极管,雪崩二极管,光电倍增管,紫外、可见和红外光电探测器的光谱响应或光电特性测量。
□ 红外器件和材料的研究,红外光学仪器特性检测
□ 平行逛逛
主要规格及特色
□可调光谱范围:200~17um(可根据要求选择,如:200-1800nm,200-400nm,350-1100nm,350-2500nm等)
□可调带宽:> 0.1nm(根据需要选择,并且带宽连续可调)
□可采用光纤输出或自由光路输出;自由光路输出可以选择平行光或聚焦光模式
□多种光源可供选择:氘灯、氙灯、溴钨灯、复合光源等
□多种光源功率,满足不同实验需求
□可选配各种滤光片
□单色仪有100mm,150mm和300mm焦距可供选择
□单色仪有手动驱动和电动驱动可选
□各种刻线和闪耀波长的光栅可供选择
□可升级做简单的探测器光谱响应和太阳能电池IPCE测量
八、LE-SP-FM系列 高性能频率响应和发光寿命测试系统Frequency Measurement System Series
应用范围
□ 脉冲光源频率响应特性测量(激光器,LED,脉冲氙灯,荧光等各种脉冲光源)
□ 荧光寿命测量
□ 各种微弱信号脉冲发光源的发光寿命测量
主要规格及特色
□ 检测光源的波长范围:200nm~22um(可选择)
□ 频率范围:1KHz,10KHz,1MHz,10MHz,20MHz,50MHz,100MHz,500MHz(可选)
□ 低噪声放大器增益:Gain 10X,100X,1000X,106,107(可选)
□ 输入光信号:脉冲光信号或调制光信号
□ 采用进口高性能探测器
□ 滤光片组件
□ 供电220VAC或110VAC
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