CRD高反膜反射率测量仪
| 高反膜反射率测量仪 |
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目前用于测量高反膜反射率的方法一般有以下几种： 1.采用分光光度计测量透过率的方法：此方法测量显而易见是不准确的，一般高反膜反射率现在都要求99.98%以上，而用透过测量方法，明显有几个问题：（1）材料的吸收不能扣除 （2）膜层的吸收不能扣除 （3）分光光度计本身波长精度及测量精度的限制。以目前常见的高端分光光度计PE-lambda950或者岛津UV-3600来说，波长最高分辨率0.1nm，测试精度0.1%。所以用其测量99.98%以上的反射膜是不可行的。 2.在分光光度计上加特殊反射附件，比如VW,VI反射附件，直接测量反射率的方法：正如1中所述分光光度计的缺陷，尽管理论上采用多次反射附件如VW可以得出较理想的值，但实际精度顶多就到0.2%，而且需要用若干次测量取平均的方法才可以得到。
3.绝对测量法：用特定激光波长直接测量反射率。看起来是很美妙的事，但是激光器本身稳定性就不高，一般为1%，以稳定性最好的气体激光器比如he-ne激光器来说。其稳定性也就是0.1%，此外还有探测器的噪声。当然可以采用双光路的方式来减少测量误差，但从论文报到来看，最高达到的精度也就0.1%。据报道，国防科大及上海光机所还研制出专门的高反仪，但逐步被淘汰使用，就是由于其实际测量精度不高，难以满足应用需求。 除此以外还有些改进方法，但均没有得到实际应用。以上方法都不行，还有没有其它方法呢，当然有。1988年科学家提出激光腔衰荡法（CRDS），此方法经众多学者研究公认为是测量高反膜最可行的方法，目前已广泛应用于军事领域激光陀螺仪的测量。商品化的产品在工业领域很难找到，因为其属于高新技术，美国等国家对中国禁运。CRDS的原理用一篇论文里的简单描述如下：
因此，只要测出衰荡时间就可以精确测量出待测样品的反射率。CRDS方法测量精度高，可以达到1ppm。下面是我们国内某客户定制的1064nm的CRDS测量结果：
实验测试了同炉镀制的2片高反腔镜，测量值为R = 99,9973 +/- 0,0001 %.可以看出稳定性及测量结果很精确。 相信很多朋友现在还在为高反膜的测量而困惑，大家看过上面的简单描述，应该可以明白CRDS是唯一可行的高反膜反射率测试方法。我们代理的设备是德国研制开发的，目前已在国内某些客户中广泛应用，为其改善产品质量，提升客户满意度起到了很关键的作用。我们知道现在国内很多单位已经有很好的镀膜设备比如IBS,LEYBOLD的IAD等等，但是没有好的“眼睛”很难开发出稳定的产品。我们希望我们这款产品能为国内光学行业做一些贡献。 如果您想进一步了解，请与我们联系。sales@opcrown.com;010-51606423 |
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