离子迁移试验装置
可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・高效率的评价。
从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，
新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。
简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）
适用规格：JPCA-ET01-2001
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项目 |
规格・性能・其他 |
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筺 体 |
型式 |
ECM-100/40-n (n:Channel数) |
ECM-100/100-n (n:Channel数) |
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筺体型式 |
40CH型（最大4计测组合） |
100CH型（最大10计测组合） |
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筺体寸法 |
265W×330.3D×405H（突起部除外） |
417.4W×330.3D×405H（突起部除外） |
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消費电力 |
大约70VA（4计测组合实装時） |
大约130VA（10计测组合实装時） |
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重量 |
大约16kg（4计测组合实装時） |
大约25kg（10计测组合实装時） |
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使用电源 |
AC100V 50/60Hz |
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计测 组合 |
计测Channel数 |
10CH |
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计测电阻值范围 |
2kΩ～10TΩ |
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DCbias印加 |
电压范围 |
2范围 （1.0～30.0V，30.1～300.0V） |
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电压范围设定 |
1组（5CH） |
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电压级别设定 |
Channel个别 |
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设定分解能 |
0.1V |
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设定精度 |
±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V |
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最大输出电流 |
700μA／CH |
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DCbias计测 |
计测范围 |
2范围（0～33V、0～330V） |
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计测精度 |
±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V |
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计测分解能 |
0.1V～（整数+小数点以下１行表示） |
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AD转换器 |
24bits⊿∑AD转换器／CH |
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计测速度 |
16msec／10CH |
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电流计测 |
计测方式 |
CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 |
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计测范围 |
5范围（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA） |
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计测范围设定 |
CHANNEL个别指定 或者 自动范围 |
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计测精度 |
±0.3％（F.S.） |
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计测分解能 |
1pA～（有効数字4行表示） |
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AD转换器 |
24bits⊿∑AD转换器／CH |
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计测速度 |
16msec／100CH |
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Ｃ Ｐ Ｕ 组合 |
制御Channel数 |
5～100CH（5Channel単位） |
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数据收录 |
试验制御単位 |
1组（5CH） |
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试验设定小时 |
1分～9999小时 |
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收录间隔（定期） |
1分～60分 |
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收录间隔（ECM发生時） |
16msec |
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记录媒体 |
Compact flashcard |
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其他 |
主PC通信机能 |
LAN接触口×1 |
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环境试验机通信机能 |
RS-232C接触口×2 |
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外部输入1 |
接点输入×4 （联动装置，紧急停止制御可） |
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外部输入2 |
电压输入(1-5V)×2，电流输入(4-20mA)×2 （温度・湿度记录可） |
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自动校正 |
bias输出補正，異常leak电流检测 |
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计测线 |
详细资料请联系深圳市世纪天源仪器有限公司 涂小姐 13570829212 |
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日本HIRAYAMA高加速寿命试验设备：HAST高加速寿命试验箱，PCT高压蒸煮试验箱。
日本J-RAS：离子迁移试验装置及导通电阻可靠性评估装置。
我们的经营理念：专业，优质，双赢；敢想就敢有！
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