布鲁克AFM探针 tapping轻敲模式 Otespa-R3
otespa - r3可视探针优点：
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针尖位于悬臂的末端。探针定位更容易，特别是当AFM和光学显微镜结合使用时，如使用Bioscope Resolve时。
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高横向分辨率:
针尖曲率半径对图像分辨率有极大影响。四面体形状是获得点更小针尖曲率半径的理想形状。Otespa—R3曲率半径很小，即使有铝涂层，其平均曲率也小于10nm。
OTESPA探针应用范围广泛，尤其在晶体表面、薄膜、IC器件等方面非常出色。
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粗糙样本的观察:
针尖非常薄，顶锥角为35度，使用者可以看到样品的一部分。此外，针尖是一个倾斜的角度，安装到AFM上以后，这个角度会变小(可能是5到20度)。这对粗糙样品同样适用。
探针基本常识
探针对AFM成像质量的影响很大，多数情况下，AFM图质量差就是因为探针钝了，或者多针尖引起的。
材质：
1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；
2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；
3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。
常用探针型号介绍
1. 轻敲模式，RTESP，TESP，FESP
2. 接触模式，SNL，NP，
3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+
4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V2
5. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。
我们致力于为客户提供全面的显微设备，涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。
此外，我们还提供专业的薄膜测量设备，包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪，以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。
在光电测量设备领域，我们正在不断拓展我们的产品线，已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。
尺有所短寸有所长，每一个品牌，每一台设备亦如此。在客户的需求上，提供最适当的解决方案，是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商，更是为客户提供全方位解决方案的合作伙伴。
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