便携式芯片原子力显微镜
——AFM纳米形貌表征从未如此简单!
ICSPI公司在便携式nGauge原子力显微镜(AFM)的基础上进行了全新升级,推出了新一代的便携式原子力显微镜Redux。Redux原子力显微镜(AFM)除了具有方便携带,操作简单,扫描速度快,可扫描大尺寸样品,无需维护等优点,还可以迅速找到感兴趣的测量位置,实现相关区域的快速高精度测量。适合各类纳米表征应用场景,从科学研究、高等教育到工业用户的样品3D表面形貌快速成像分析等,革命性的创新技术的降低了传统AFM的复杂操作,也的拓宽了传统AFM的应用范围!
适合各类纳米表征应用场景
半导体工业
材料工业
纳米技术
生命科技
涂料,聚合物和复合材料等
高等教育
......
产品特点
更小巧,更便携
独特的AFM微纳机电芯片,使得Redux/nGauge原子力显微镜(AFM)系统仅有公文包大小,可随身携带。
更简单,更易用
只需点击鼠标三次即可获得样品表面纳米级形貌信息,无需配置减震平台。
第一步:通过内置光学显微镜寻找扫描区域;
第二步:Redux/nGauge帮助扫描探针自动寻找样品表面;
第三步:点击扫描,获取样品表面形貌信息。
维护简单,性价比高
类金刚石针尖保证AFM探针超长寿命,且无需繁琐的更换针尖操作和其他后期维护工作。

Redux采用的压电AFM探针技术以及耐用的探针针尖(左图)。中图为一根探针第215次扫描样品的结果,右图为第1164次扫描样品的结果
基本参数
成像类型:形貌图,相位图
XY扫描最大区域:100 μm × 100 μm
XY 扫描分辨率:<0.5 nm
Z向扫描范围:10 μm
快速扫描成像时间:16 秒
可表征样品最大尺寸:100 mm x 50 mm x 20 mm
可表征样品最大重量:1 kg
各表征手段对比
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nGauge AFM
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传统 AFM
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SEM
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大气环境下运行
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自动寻找样品表面
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N/A
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设备安装时间
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5 分钟
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1-2 周
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1-2 周
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扫描样品时间
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2 分钟
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1 小时
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30 分钟 – 1 小时
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随测随走
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培训时间
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1 小时
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12+ 小时
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12+ 小时
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无需激光对准
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普通市电/USB供电
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更换探针难度
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N/A
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3D表面形貌成像
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成像分辨率
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不导电样品表征
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测试数据
微柱阵列三维成像

二氧化硅聚合物复合材料相扫描结果

半间距为200nm的光栅形貌表征

数据存储单元纳米结构三维形貌表征


丹麦Akasel公司检测钢铁抛光样品表面

美国Biotech公司表征皮肤样本

美国Applied Nanotool公司微纳光学器件品控

光电子领域器件检测

发表文章
1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.
2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.
3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.
4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.
用户单位
nGauge全球代表性用户

