布鲁克AFM轻敲探针Tapping Tespa-V2
基本信息
产品名称：
布鲁克AFM轻敲探针Tapping Tespa-V2
英文名称：
国产/进口：
进口
产地/品牌：
美国/布鲁克Bruker
型号：
Tespa-V2
参考报价：
销售商：
总点击数：
4901
更新日期：
2024-10-28
产品类别：
性能参数
一包10根高质量硅蚀刻探针，用于TappingMode™和其他非接触模式。
Bruker AFM Probes推出了其流行的TESP / TESPA AFM探针的改进版本。 布鲁克的新系列TESP高品质优质蚀刻硅探针为TappingMode™和空气中的非接触模式设定了行业标准。
新设计提供：
•更严格的尺寸规格，以改善探头与探头的一致性
•尖端顶点与悬臂的对齐更紧密，从而使尖端上的激光定位更容易
•改善探头质量和美观
该AFM探针可以安装在任何AFM上使用，不使用铝反射涂层的型号为TESP-V2。
Bruker AFM Probes推出了其流行的TESP / TESPA AFM探针的改进版本。 布鲁克的新系列TESP高品质优质蚀刻硅探针为TappingMode™和空气中的非接触模式设定了行业标准。
新设计提供：
•更严格的尺寸规格，以改善探头与探头的一致性
•尖端顶点与悬臂的对齐更紧密，从而使尖端上的激光定位更容易
•改善探头质量和美观
该AFM探针可以安装在任何AFM上使用，不使用铝反射涂层的型号为TESP-V2。
公司简介
北京伊微视科技有限公司是一家专注于提供先进显微、膜厚测量以及光电测试设备的企业。
我们致力于为客户提供全面的显微设备，涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。
此外，我们还提供专业的薄膜测量设备，包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪，以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。
在光电测量设备领域，我们正在不断拓展我们的产品线，已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。
尺有所短寸有所长，每一个品牌，每一台设备亦如此。在客户的需求上，提供最适当的解决方案，是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商，更是为客户提供全方位解决方案的合作伙伴。
我们致力于为客户提供全面的显微设备，涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。
此外，我们还提供专业的薄膜测量设备，包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪，以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。
在光电测量设备领域，我们正在不断拓展我们的产品线，已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。
尺有所短寸有所长，每一个品牌，每一台设备亦如此。在客户的需求上，提供最适当的解决方案，是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商，更是为客户提供全方位解决方案的合作伙伴。
售后服务
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详细地址：
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