简单介绍

岱美与Filmetrics有接近16年的合作关系，单是国内于16年已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。


 

经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领导者，让复杂测量变得简单

产品简介：
美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。
应用：
通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：

膜层实例：
几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：
SiO2（二氧化硅）           SiNx（氮化硅）                    DLC（类金刚石碳）
Photoresist（光刻胶）     Polyer Layers（高分子聚合物层）      Polymide（聚酰亚胺）
Polysilicon（多晶硅）      Amorphous Silicon（非晶硅）
 基底实例：
对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。
包括：
Silicon（硅）         Glass（玻璃）               Aluminum（铝）
Gas（砷化镓）        Steel（钢）                 Polycarbonate（聚碳酸脂）
Polymer Films（高分子聚合物膜）
产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：
●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。
●玻璃或塑料的板材、管道和容器。
●光学镜头和眼科镜片。
服务：
免费样机演示及测量
轻轻一按即可实现测量！
请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！
优势：
*     提供在线诊断
*     配送独立的软件包
*     精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果
*     免费软件升级



 

极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:

一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量）

二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量

三、F50/F60系列- 表面的自动测绘

四、F30 系列- 在线厚度监控仪器

F60t