晶圆缺陷检测系统
基本信息
产品名称：
晶圆缺陷检测系统
英文名称：
国产/进口：
进口
产地/品牌：
日本列真
型号：
LODAS
参考报价：
销售商：
总点击数：
1390
更新日期：
2023-01-07
产品类别：
性能参数
晶圆缺陷检测系统LODAS
可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面，背面和内部的缺陷，可探测最小缺陷为100 纳米，主要用于半导体光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、内部、背面的缺陷检查 。
公司简介
北京欧屹科技有限公司（欧屹科技），是一家提供激光，光电，半导体仪器设备的高科技企业。
欧屹科技代理，经销的产品内容广泛，我们在激光耦合、光束变换、半导体激光器、皮秒飞秒激光器及加工系统、探测器等光电器件、材料应力检测、半导体晶圆加工及检测、等离子光谱检测产品广泛应用于教学，科研，产品开发及规模生产中。十几年来，欧屹科技不断为用户提供世界上最先进的仪器设备及配套解决方案，使得每一位用户都能获得持久的收益。
欧屹科技凭借自身的专业技术能力，优秀的服务，已经与世界多家制造企业建立长期的战略合作，如德国LIMO、德国耶拿集团、德国SPETEC、美国Edmund、美国Sonicor、日本Ryokosha、日本Photonic Lattice、日本APCO、日本NMPT、韩国NONA TECH，台湾OPTIVU等。我们提供的不仅仅是先进的产品，而是更注重客户最真实的需求是什么，针对用户的技术需求，从咨询开始到技术方案确定，到项目实施，到售后的安装，到技术培训，到未来的系统的升级改造，我们全都考虑到，并为客户落实到位，确保我们客户的每一笔资金都花在刀刃上，为客户带来切实的，长期的益处。
专业服务创造价值，我们专注为客户服务且与合作伙伴一起为您服务，请联系我们吧，我们将会给您满意的答案！
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欧屹科技凭借自身的专业技术能力，优秀的服务，已经与世界多家制造企业建立长期的战略合作，如德国LIMO、德国耶拿集团、德国SPETEC、美国Edmund、美国Sonicor、日本Ryokosha、日本Photonic Lattice、日本APCO、日本NMPT、韩国NONA TECH，台湾OPTIVU等。我们提供的不仅仅是先进的产品，而是更注重客户最真实的需求是什么，针对用户的技术需求，从咨询开始到技术方案确定，到项目实施，到售后的安装，到技术培训，到未来的系统的升级改造，我们全都考虑到，并为客户落实到位，确保我们客户的每一笔资金都花在刀刃上，为客户带来切实的，长期的益处。
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