显微成像

基恩士形状测量激光显微系统 VK-X3000系列

基本信息
产品名称:
基恩士形状测量激光显微系统 VK-X3000系列
英文名称:
国产/进口:
进口
产地/品牌:
日本/基恩士
型号:
VK-X3000系列
参考报价:
总点击数:
713
更新日期:
2022-06-28
产品类别:

性能参数
设备名称:基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000系列
 
产品简介:
基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000系列
搭载白光干涉功能 ,纳米/微米/毫米一台即可完成测量
超越激光显微镜的限制,以三重扫描方式应对
•一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
•一台即可了解希望获取的信息
•纳米级分辨率
 
详细介绍:
基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000系列
 
产品外观
 
 
产品特性
采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,
以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。
 
1、Basic Characteristics
观察
从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
· 42 至 28800 倍
· 无需对焦
· 适用于多种样品
 
 
测量
非接触瞬间扫描形状
· 不会损伤目标物
· 纳米级别也可准确测量
· 透明体和坡度大的目标物也可测量
 
 
分析
希望了解的表面“差异”一目了然
· 定量化微小形状
· 轻松比较多个样品
· 粗糙度分析
 
 
2、三重扫描方式解决“难以测量”的难题
可根据样品工件的材料、形状和测量范围,选择激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,进行高精度测量。
 
 
3、纳米级分辨率
即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外,如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。
 
 
4、连高度差较大的凹凸处和大范围区域也能测量
扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备,即可同时掌握整体形状和局部形状。
 
 
5、精确测量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
适用于各种目标物的测量能力
 
 
测量案例
Si 晶片背面 │ 3000 倍
表面粗糙度测量
 
 
MEMS │ 2 mm × 2 mm
提供:Matthieu Denoual 博士(GREYC/CNRS, ENSI de Caen,France)与东京大学研究生院三田吉郎研究室
 
 
相机卡口部端子 │ 30 mm × 12 mm
端子的形状测量
 
 
基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000系列
除上述应用外,在其他行业也应用广泛。
如果想了解更多信息可留言或电话咨询,我们将竭诚为您服务。
公司简介
基恩士(中国)有限公司,以下简称基恩士。在2001年9月设立了第一个销售网点。现在在上海(总部)、北京、天津、大连、青岛、深圳、香港等国内主要城市均设立了办事处。
我们不仅致力于满足许多制造与研究行业客户现在的需求,同时致力于预见市场的未来发展,为客户提供更加长远的改善方案。
除了提供优秀的产品外,我们还为客户提供更丰富的业界知识及更专业的技术方案,助力客户取得更高的成就。
基恩士为世界范围内约110个国家或地区的25余万家客户提供服务,期待与您共创美好未来。

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