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日本 CRESTEC电子束光刻系统

基本信息
产品名称:
日本 CRESTEC电子束光刻系统
英文名称:
国产/进口:
进口
产地/品牌:
CRESTEC
型号:
日本 CRESTEC电子束光刻系统
参考报价:
总点击数:
452
更新日期:
2022-09-14
产品类别:

性能参数
Electron Beam Lithography System(EBL)

电子束光刻系统

 

日本 CRESTEC 是世界上制造专业电子束光刻设备的知名厂商之一,其制造的电子束光刻机以其独特的专业技术,超高的电子束稳定性,电子束定位精度以及拼接套刻精度赢得了世界上著名科研机构以及半导体公司的青睐。其中 CABL 系列更是世界上最优秀的产品之一。

 

   
 

 

 

 

 

CRESTEC CABL 系列采用专业的恒温控制系统,使得整个主系统的温度保持恒定,再加上主系统内部精密传感装置,使得电子束电流稳定性,电子束定位稳定性,电子束电流分布均一性都得到了极大的提高,其性能指标远远高于其它厂家的同类产品,在长达 小时的时间内,电子束电流和电子束定位非常稳定,电子束电流分布也非常均一。

 

 

由于 EBL 刻写精度很高,因此写满整个 Wafer 需要比较长的时间,因此电子束电流,电子束定位, 电子束电流分布均一性在长时间内的稳定性就显得尤为重要,这对大范围内的图形制备非常关键。

 

CRESTEC CABL 系列采用其独有的技术使其具有极高的电子束稳定性以及电子束定位精度,在大范围内可以实现图形的高精度拼接和套刻。

 

 

Stitching accuracy

50nm (500μm sq., μ+ 3σ)

 

20nm (50μm sq., μ+ 2σ)

 

Overlay accuracy

50nm (500μm sq., μ+ 3σ)

 

20nm (50μm sq., μ+ 2σ)

 

   
 

Stitching accuracy for slant L&S <10nm

 

该图是在 英寸 wafer 上,采用 50 um 的图案进行拼接,写满整个片子,其拼接精度低于 10 nm.实验室数据)。

CRESTEC CABL 系列还可以加工制备 10 nm 以下的线条,无论半导体行业还是在其它领域

CRESTEC 的电子束光刻产品都发挥了巨大的作用。

 

主要特点:

1.采用高亮度和高稳定性的 TFE 电子枪

2.出色的电子束偏转控制技术                                      3.采用场尺寸调制技术,电子束定位分辨率(address size)可达 0.0012nm

4.采用轴对称图形书写技术,图形偏角分辨率可达 0.01mrad

5.应用领域广泛,如微纳器件加工,Si/GaAs 兼容工艺,研究用掩膜制造,纳米加工(例如单电子器件、量子器件制作等),高频电子器件中的混合光刻(Mix & Match),图形线宽和图形位移测量等。

 

 

电子束光刻 CABL-9000C 系列最小线宽可达 8nm,最小束斑直径 2nm,套刻精度

20nm(mean+2σ),拼接精度 20nm(mean+2σ)

 

技术参数:                         1.最小线宽:小于 10nm8nm available) 2.加速电压:5-50kV

3. 电 子 束 直 径 : 小 于      2nm 4.套刻精度:20nm(mean+2σ)                                    5.拼接精度:20nm(mean+2σ)                                    6.加工晶圆尺寸:4-8 英寸(standard)12 英寸(option)

7.描电镜分辨率:小于 2nm

 

 

 

超高分辨率的电子束光刻 CABL-UH 系列的型号包括:

CABL-UH90 (90keV) CABL-UH110 (110keV) CABL-UH130 (130keV)

 

技术参数:

加速电压:最高 130keV

单段加速能力达到 130keV,尽量减少电子枪的长度超短电子枪长度,无微放电

电子束直径<1.6nm 最小线宽<7nm

双热控制,实现超稳定直写能力

公司简介
苏州海思微电子科技有限公司是专业从事半导体设备设计、研发与销售,同时也是目前国内主流的欧美及国内先进半导体设备供应商及系统集成商和打包解决方案提供者。 海思科技产品涵盖: 半导体工艺:紫外接触式光刻机|ICP刻蚀机|RIE刻蚀机|晶圆键合机|涂胶显影机|干法等离子去胶机 磁控溅射设备/电子束蒸发、热蒸发台|PECVD等离子沉积设备|ICP-PECVD感应耦合等离子沉积设备 半导体检测:晶圆AOI|原子力显微镜|台阶仪|三维光学轮廓仪|扫描电镜|应力测试设备|膜厚仪 封装工艺 :环氧、共晶贴片机|引线键合机||等离子清洗机|倒装键合机 封装检测 :推拉力测试机|X-ray 设备|超声波扫描仪|测量显微镜|3D显微镜

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