VASCO KIN 原位非接触纳米粒度分析仪
基本信息
产品名称：
VASCO KIN 原位非接触纳米粒度分析仪
英文名称：
国产/进口：
进口
产地/品牌：
法国/Vasco Kin
型号：
VASCO KIN
参考报价：
销售商：
总点击数：
873
更新日期：
2025-11-01
产品类别：
性能参数
VASCO KIN 原位非接触纳米粒度分析仪
VASCO KIN 原位非接触纳米粒度分析仪，源自法国，无需移液管批量取样，即可对原始状态或生产 / 反应过程中的样品，进行实时、非侵入式的粒度检测。避免样品取样、转移、稀释等操作对颗粒天然状态的干扰，真实反映颗粒在实际环境中的特性。
颗粒度范围：0.5nm-10um。
仪器特点
- 原位非接触模式：无需分批次取样，不侵入样品中，与样品无接触，不污染样品。
- 占用空间小：可集成到狭小空间系统中，如手套箱内，满足非氧环境测试要求。
- 仪器坚固：可在恶劣环境中工作，满足化工领域现场测试环境。
- 超长距离测试：单模光纤模式，光纤长度2m-20m可选。
- 快速测试：仪器开机即测，无需预热等待。
VASCO KIN
技术参数
- 测量原理：光纤动态光散射（DLS）
- 测量配置：原位/非接触式远程探头
- 粒度范围：0.5nm-10um
- 浓度范围：最高40%（重量百分比）
- 测量时间：最低2秒
- 时间分辨率：最高200毫秒
- 最小上样量：50uL
- 采用原位测量，标准配置样品架台，可以将原位测量模式，快速转化为实验室台式测量模式
- 采用无伪影光电二极管（APD）为探测器
- 专利的NanoKin分析软件
多款Vasco kin 多功能探测器
- 原位探测探头：快速准确的纳米粒度测试、反应动力学研究、过程监控等。可与其他光谱法光学光学仪器联用。如X射线小角散射、小角中子散射、拉曼光谱发、紫外-可见光谱法等。
- 在线微流控测量探头：实时连续测量，可在线测量、提供制剂在微流控芯片出口处力度分析以及不同流速下实时控制制剂。
- 高浓度测量探头：专门应对高浓度、深色体系粒度分布分析，无需稀释。
- 多角度测量探头：专门用于高分子、蛋白质等体系分子量、回转半径的测量。
创造性的Vasco Kin 时间分辨功能
能够在短时间内，获取大量数据点，通过时间分辨监测合成过程并反馈调整参数，快速准确的获取粒度分析数据，实现纳米粒度的实时监测，为研究和生产过程提供及时反馈和控制。
- 纳米颗粒合成过程监控
- 纳米颗粒团聚研究
- 纳米颗粒悬浮液稳定性研究
- 动力学研究
Vasco Kin 多种仪器联用
- Vasco Kin 与SAXS in-Lab联用
- Vasco Kin 与大科学装置小角散射站联用
Email: sem@ylcorp.com.cn www.ylcorp.com.cn
公司简介
北京合创鸿业科技有限公司致力于引进推广先进的材料、生物显微观测及微区分析仪器，向科研人员高附加值服务，促进中国的科学技术发展。
合创鸿业产品包括德国Point Electronic电子束感生电流电性失效分析系统EBIC，电子束吸收电流电性失效分析系统EBAC-RCI，电性失效分析系统FEA和电性分析系统EA，扫描透射电子束感生电流电性失效分析系统STEBIC等，以及德国MICROTEC硬组织切片机和大型工业用切片机等等。
我们拥有一支涉及众多领域高素质的应用支持团队，为各行业的应用需求提供专业的解决方案和售后服务。
售后服务
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