膜厚测量仪 Filmetrics F20 膜厚仪
基本信息
性能参数
测量厚度从 1nm 到 10mm 的先进膜厚测量系统
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，F20适用于各种应用。
一：测量厚度、折射率、反射率和穿透率：
单层膜或多层膜叠加
单一膜层
液态膜或空气层
二：不同条件下的测量，包括：
在平面或弯曲表面
光斑最小可达20微米
桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线配置
所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的电话和互联网支持（24小时/每周5工作日）。这就是Filmetrics的优势，欢迎您试一试！
公司简介
那诺中国有限公司是一家高科技技术服务公司，专注于为大中华区域（包括中国大陆、香港、澳门和台湾）的高校、科研院所、企业研发与生产提供基于飞行时间质谱仪的高性能科学仪器。 我们可以提供高性价比的定制化仪器 ，因为我们能够重复使用现有的设计模块，这些来源于我们庞大的、 有据可查的后台目录 中。这些预先存在的机械信息，结合所需要的任何一次性工程，使我们能够根据客户的具体要求生产出价格合理的仪器。 我们的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS），不仅适用于实验室实验，也适用于现场实时分析。我们的仪器在环境科学、工业和生产、生物科学、材料科学、半导体、电子等行业都有广泛的应用。
售后服务
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资料下载
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联系方式
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详细地址：
闵行区舒也时代广场C320
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联系电话：
021-62318025
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