简介

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（STM）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。现已广泛应用于各种纳米相关学科的研究实验领域中，成为纳米科学研究的基本工具。

AFM探针与样品（导体、半导体、非导体）之间的原子力大小，与两者间距有关。当探针与样品进入原子力状态时，作用于针尖上的原子力推动微悬臂使之产生偏转。此时对样品进行XY扫描，微悬臂的偏转量随样品表面的起伏而变化，采用光杠杆方法将偏转量放大从而获得偏转量的大小，即可获得样品表面的微观纳米形貌。

特点

AFM探头采用独特的卧式设计，具有独特的卧式可视化光路，使科研及教学实验过程中研究人员及学生对仪器的操作更直观，探头及仪器性能更加稳定和优越。

• 采用高精度压电陶瓷扫描传感器， X、Y、Z互相正交的三轴压电陶瓷，可保证扫描图像不因耦合而失真；扫描器具有更好的扫描线性和独立性、更高的强度和刚度，兼具更强的扫描驱动力，能同时适用于较小与较大、较轻与较重样品的扫描成像。

• 具有强大的图形软件与功能，彩色图像扫描、处理及显示软件，中英文操作界面，兼容Windows XP/Win7/Win8/Win10等操作系统。用鼠标可任意选择局部扫描区域，实现图像的平移、定位和缩放。具有实现X 和 Y 方向的面扫描和线扫描的功能；可获得样品表面的纳米级三维形貌结构和截面线显示功能。裁剪、粘贴、 对比调节、亮度调节、颜色调整、背景色调整、图像平滑、滤波等图像处理功能。   

• AFM的使用非常简单和便捷，一般无需专人操作和维护。安装探针、安装样品、粗调和微调进样、图像扫描、图像存储等操作，均可简单完成。特别适用于科学研究、教学实验及产品检测。

• 无须严苛的使用环境，能够在在普通实验室、普通实验台、普通教室、普通桌子等条件下正常运行，能够在有光照、有轻微振动及有人员走动的一般环境条件下正常工作。我们的AFM是看得见、摸得着、易维护、易操作、普适化的，而不是黑箱式的、安装调试极其繁琐的、需要专人操作的、使用环境近乎严苛的。

应用

同时适用于科学研究、本科生和研究生的教学实验及纳米技术产品的检测，广泛适用于各种金属/非金属、导体/非导体、磁性/非磁性材料样品的扫描检测。

典型测试数据

纳米压印结构样品的AFM图像

部件列表