半导体激光光谱功率测试系统
简介
激光的中心波长、半高宽和功率大小是其重要的性能指标。由于半导体激光器所发出的激光具有一定的发散角,我们采用积分球作为采光附件。该装置主要由光谱仪、光功率计和积分球组成,通过专用软件,同步测量激光器的中心波长、半高宽和光功率。适用于测量激光二极管、激光二极管组件、发散型单色光源等发光器件,并且支持改装成流水线批量测试。其波长范围200-1100nm,分辨率0.1-1nm,功率范围100nW-10W。设备出厂前,我们会对积分球,探测器和光功率计整体进行校准,提高测试精度。
特点
200-1100nm宽光谱测量范围
适合自动化批量检测
支持二次开发
支持深度定制
软件
专⻔针对激光器快检开发了⼀款⽤来同时测量光谱和功率的应⽤软件。软件界⾯简洁实⽤,操作简单,在“设置”中按⽤⼾的测试要求设置完成对应参数,保存后即可开始测量。
软件适合于⽣产线批量检测,输⼊序列号,点击测量,所有的测试数据均会在“测试记录”中保存,软件还可⾃动判定产品是否合格。
配置清单
配置 |
基础款 |
光谱仪 |
YSM-8101-01-02 400-1100nm,分辨率~1nm (可选择不同配置的光谱仪) |
光功率计 |
YPM-8202-01-L 380-1100nm (可选择不同参数功率计) |
积分球 |
XME-2201-15001 直径150mm |
光纤 |
XOP-1102-0615 600µm,1.5m |
软件 |
光谱功率专用软件 |
单位名称: |
详细地址:
浙江省杭州市富阳区银湖街道中国智谷富春园区C2幢2层
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qq:
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联系电话: |
Email: |