仪器简介：
       我们的粒度和Zeta电位分析仪器, X射线衍射仪利用超声波在含有颗粒的连续相中传播时，声与颗粒的相互作用产生的声吸收、耗散和散射所引起的损失效应来测量颗粒粒度及浓度，采用专利技术---多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达50％（体积）浓度的样品，无需进行样品稀释或前处理即可直接测量。甚至对于浆糊、凝胶、水泥及用其它仪器很难测量的材料都可用Zeta Probe 直接进行测量。
       传统方法要求稀释样品或进行其它的样品处理，既费时又容易出错，而专利的多频电声技术则可避免这些问题。超声探头（Zeta Probe）能直接在样品的原始条件下测量zeta电位，允许样品浓度高达50％（体积）。Zeta Probe 结构设计紧凑，外置的Zeta电位滴定装置(可选配).自动滴定装置可自动、快速地判断等电点，可快速得到最佳分散剂和絮凝剂。对粒度和双电层失真进行自动校正。该仪器的软件易于使用，通用性强，非常适用于科研及工厂的优化控制。
技术参数：
1. 粒径由超声波( Acoustic)方式 , Zeta 电位由电声波( Electro Acoustic)方式
2. 样品无需稀释直接测定,测量固体含量范围:1% ～ 50%
3. 样品最大测量搅拌浓度:10,000cps
4. 样品测量电位范围:+/- 300mV或以上
5. 声波范围: 500～3000m/s
6. 频率范围: 1 to 100 MHz , multiple gap 自动扫描18个gap或以上
7. 粒径测量: 5nm ～ 1000um
8. 可测量混合物之粒径及Zeta电位 , 并可分析混合物之个别粒径
9. 测量Zeta电位只需10ml或以下
10. 操作软件功能:
    - 需在Windows XP下操作
    - 粒径分布图及累计图
    - 粒径分布数据表含D10 , D50 , D90
    - 数据库可在 Windows Access中由使用者自由选取
    - 使用者可自由选取声波速度及衰减图
    - 任何两个参数的散射图
    - 用户定义自动选择多数据系列Multiple data series automatically selected from user query
11.可选自动酸碱与浓度滴定装置
12.可选自动测量粒径及Zeta电位对pH变化
13.可以及时分析/显示Zeta电位与等电点
14.可及时测量/显示样品pH值,电导率,温度
15.可选数据资料处理与显示系统:
     Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD ,
     Windows XP及 Office软件 ( or Laptop computer

主要特点：
1.能分析多种分散物的混合体
2.无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点
3.可适用于高导电（highly conducting）体系
4.可排除杂质及对样品污染的干扰
5.可精确测量无水体系
6.Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量
7.样品的最高浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量
8.具有自动电位滴定功能
突出优势：
       可以进行颗粒分布、动态迁移率、流变能力、孔径和孔隙率、液体压缩率、Zeta电位、双电层厚度、电导率、pH和温度以及表面电荷密度等方面的测定。
       同时可以处理表征原浓分散体系的分析仪器；分散体系的近过程表征；原浓液分散体系的颗粒分布和ζ电位。