荧光x射线膜厚仪是一款下照式结构的镀层测厚仪，测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。搭配荧光x射线膜厚仪压单元和微焦斑的X光管，bao证了信号输出的效率与 wen 定性。

荧光x射线膜厚仪在准直器的选择上，EDX600PLUS也有着较大的youshi，它可以搭配的准直器 geng 小：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等。用 chao 小的准直器得到的 chao 小光斑，让geng 小样品的测量也变得游刃有余。

搭配 gao 分辨率可变焦摄像头，配合gao性能距离补正算法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等)的异型测试面的 jing 准测试。

荧光x射线膜厚仪EDX600 PLUS技术参数

尺寸规格

荧光x射线膜厚仪设计形式：台式仪器，测量盖向上开启

测量方向：从下至上

仪器重量：45kg

外型尺寸(mm)：497(W)×427(D)×468(H)

样品室尺寸(mm)：415(W)×374(D)×218(H)

X射线源

X射线管：微焦斑W靶射线管

X射线管高压、电流：jin 口 da 功率高压单元

准直器(孔径)：可选φ0.2mm,φ0.3mm,φ0.5mm,φ0.1*0.3mm,还可按要求定制其它规格

荧光x射线膜厚仪

信号接收器：Fast-SDD大窗口探测器

分析方法：FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法

同时检测镀层及元素：可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素

测量元素范围：13Al(铝)~92U(铀)之间的元素均可测量

检出限：金属镀层分析 zui 薄可0.0025μm

荧光x射线膜厚仪厚度范围：分析镀层厚度一般在0~120μm以内(每种材质有所不同)

厚度标准偏差：RSD<3%

含量测试范围：0.1%~99.9%

检测时间：5秒以上

样品观测配置

样品照明：LED灯，下方垂直环绕照射(可调节亮度)

样品观察对焦：高分辨率彩色CCD变焦工业摄像头，沿初级X射线光束方向观察测量位置，带有经过校正的刻度和测量点指示的十字线，手动测距对焦

倍率：图像可放大倍数20x-160x,实现微小样品清晰 ding wei

样品移动平台：手动X/Y gao jing 度移动平台

防护

操作环境温湿度：0℃~30℃,湿度≤70%

工作电源：交流220V±5V

荧光x射线膜厚仪性：平台的凸出设计，开盖停止 bao hu ，多重金属及铅玻璃防止辐射，保障用户 an quan .

X荧光镀层厚度测厚仪对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行 jing 准检测，帮助企业准确核算成本及质量 guan kong 。可应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等。