便携式X荧光分析仪
适用范围:矿物等的品位多元素分析。
测量时间:120秒。
1、采用美国最新电致冷半导体探测器、微型X光管及高压,具有分析速度快、分析元素多、分析精度高、操作简单、维护方便等特点。
2、分析仪由于采用先进测量技术,无需添加其它物质,只需将样品置于样盒中即可。对于固体块状样品测量一般采用照射样品上表面(即探头在样品上方);对于溶液测量,考虑到其特殊性,一般针对其具体情况采用相应的设计方案。家具家电
成都理工大学附属产业,专注于测量及控制仪器的研究生产及推广,侧重于材料元素含量快速分析,环境放射性等污染及地质灾害监测。主要自主研发的仪器为CIT系列X荧光分析仪、放射性检测仪、测氡仪、山体滑坡无人监控系统、矿山、工厂在线分析系统等。