高分辨率扫描电子显微镜 (SEM)
基本信息
产品名称：
高分辨率扫描电子显微镜 (SEM)
英文名称：
国产/进口：
产地/品牌：
JEOL
型号：
JSM-6460系列
参考报价：
销售商：
总点击数：
3406
更新日期：
2008-08-14
产品类别：
性能参数
JSM-6460LA的主要特长
◎ 备有最多８种检测器口和选择口。（ＥＤＳ、ＷＤＳ、ＥＢＳＰ、ＩＲ照像机、ＣＬＤ等）
◎ 在工作距离为１０mm的位置，所有的信号[如∶ＳＥＩ、ＢＥＩ、Ｘ射线（ＥＤＳ ／ＷＤＳ）]能被检测出来。Ｘ射线的取出角度为３５度。
◎ 高灵敏度半导体式反射电子检测器是不需拿出放入操作的类型，可获得构成图像、 凹凸图像和立体图像。
◎ 在５轴马达、优先特种载物台，最大程度可安置直径为203.2mm，高度为80mm的大型试样。Ｘ、Ｙ、Ｚ的移动范围分别是125mm、100mm、75mm。
◎ 采用了新型闪烁器二次电子检测器，因而提高了检测效率。此外，由于对容易维护 的电子光学系统和图像处理系统进行了改良，因而能显示出更加清晰鲜明的图像。
◎ 便于观察试样整个图像的最低倍数为Ｘ５。
◎ 由于集成化的ＥＤＳ、ＥＤＳ检测器、ＳＥＭ都是本公司自己研制开发的产品，所 以具有统一显示画面、装置设置面积小型化的特点。
◎ 由于ＤＴＰ功能搭载着获得好评的微笑式影像，使操作更加容易。 因搭载了超宽范围的ＳＥＭ图像及能进行Ｘ射线变换的新开发的分析站，添加了新 型系列产品。这些产品作为更加变化多端的广范围分析的ＳＥＭ，能满足各种各样 的需求。
★产品另有以JSM-6460LV为基础的低真空式LV型装置。
◎ 备有最多８种检测器口和选择口。（ＥＤＳ、ＷＤＳ、ＥＢＳＰ、ＩＲ照像机、ＣＬＤ等）
◎ 在工作距离为１０mm的位置，所有的信号[如∶ＳＥＩ、ＢＥＩ、Ｘ射线（ＥＤＳ ／ＷＤＳ）]能被检测出来。Ｘ射线的取出角度为３５度。
◎ 高灵敏度半导体式反射电子检测器是不需拿出放入操作的类型，可获得构成图像、 凹凸图像和立体图像。
◎ 在５轴马达、优先特种载物台，最大程度可安置直径为203.2mm，高度为80mm的大型试样。Ｘ、Ｙ、Ｚ的移动范围分别是125mm、100mm、75mm。
◎ 采用了新型闪烁器二次电子检测器，因而提高了检测效率。此外，由于对容易维护 的电子光学系统和图像处理系统进行了改良，因而能显示出更加清晰鲜明的图像。
◎ 便于观察试样整个图像的最低倍数为Ｘ５。
◎ 由于集成化的ＥＤＳ、ＥＤＳ检测器、ＳＥＭ都是本公司自己研制开发的产品，所 以具有统一显示画面、装置设置面积小型化的特点。
◎ 由于ＤＴＰ功能搭载着获得好评的微笑式影像，使操作更加容易。 因搭载了超宽范围的ＳＥＭ图像及能进行Ｘ射线变换的新开发的分析站，添加了新 型系列产品。这些产品作为更加变化多端的广范围分析的ＳＥＭ，能满足各种各样 的需求。
★产品另有以JSM-6460LV为基础的低真空式LV型装置。
公司简介
日本电子是世界顶级科学仪器制造商.50年来坚持为科学探索和技术进步提供最佳设备和解决方案.其产品广泛用于医学、生物、生化、农业、材料科学、冶金、化学、石油、制药、半导体和电子器件等领域的研究中。对这些学科的发展做出了卓越贡献。主要产品有电子显微镜、核磁谱仪、质谱、顺磁谱仪、能谱等大型尖端设备。
售后服务
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资料下载
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联系方式
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详细地址：
北京市西城区阜外大街2号万通新世界广场B2106室
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联系电话：
010-68588382
68046321
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