EIGER2 X/XE CdTe系列探测器
第四代同步加速器的尖端技术：
EIGER2 X CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm，且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景（低能阈值）并且测量高次谐波的影响（高能阈值）。最大计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。
2、核心优势：
– 高量子效率范围达100KeV
– 无图像延迟或余辉
– 最大计数速率高达107光子/秒/像素
– 双能量阈值
– 电子门控触发
– 有效面积大
3、应用领域：
– x射线衍射(单晶和粉末)
– 现场和原位技术
– 衍射显微镜和层析成像
– 漫散射和对分布函数
4、技术参数：
| EIGER2 X CdTe | 500K | 1M | 4M | 9M | 16M |
| 探测器模块数量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 | 3 x 6 | 4 x 8 |
| 有效面积：宽x[mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.2x 79.9 | 155.2X162.5 | 233.2X245.2 | 311.2X327.8 |
| 像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
| 能量阈值 | 2 | ||||
| 最大计数率[光子/秒/像素] | 107 | ||||
| 点扩散函数 | 1 pixel | ||||
| CdTe厚度[μm] | 450 | ||||
| 数据格式 | HDF5 / NeXus | ||||
| 帧速率 [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 |
| 尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 × 370 × 500 | 400 × 430 × 500 |
| 重量 [kg] | 3.3 | 4.7 | 15 | 41 | 55 |
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仪器设备的应用范围包括从基础研究到工业质量控制的材料性能表征，涉及元素分析、材料研究、结构分析等领域。我们通过提供高精密度、高分辨率的仪器设备来保证包括化学化工、冶金、石油、材料、制药、半导体、生命科学、纳米技术的企业客户和学术研究单位对单晶及粉晶的结构分析及各类材料的小角广角散射分析的高端及创新型的科研需要。
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