EIGER2 R CdTe系列探测器
DECTRIS 公司的专利即时触发技术使他们具有前所未有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源所能达到的最高强度。EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有两个能量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长 时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号，配合 75μm的小像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。
2、核心优势：
– 最高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据
– 即时触发技术使得计数率大幅度提高
– 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制
– 无读出噪音和暗电流，确保了最佳的信噪比
– 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像
3、应用领域：
- 大分子晶体学（MX）；
- 化学结晶学；
- 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）；
- μCT；
- 其它；
4、技术参数：
| EIGER2 R CdTe | 500K | 1M | 4M |
| 探测器模块数量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 |
| 有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 x 79.7 | 155.1 X 162.2 |
| 像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||
| 点扩散函数 | 1 pixel | ||
| 能量阈值 | 2 | ||
| 能量范围[KeV] | 8-24.2 | ||
| 阈值范围[KeV] | 4-30 | ||
| 最大计数率（cps/mm2） | 9.8×108 | ||
| 计数器深度（bit/threshold） | 2×16 | ||
| 采集模式 | 同时读/写，死区时间为零 | ||
| 图像位深度（bit） | 32 | ||
| 可选真空兼容 | Yes | ||
| 冷却方式 | 水冷 | ||
| 尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 |
| 重量 [kg] | 3.7 | 3.9 | 15 |
北京优纳珂科技有限公司是瑞士DECTRIS（德科特思）指定的在中国同步辐射和实验室领域总代理商，负责DECTRIS（德科特思）产品在中国的软硬件售前、售后服务工作；以及瑞典EXCILLUM公司OEM合作伙伴，负责EXCILLUM公司产品在中国的安装售后服务工作。同时也是德国STOE公司、英国牛津OxfordCryosystems公司、德国MarXperts公司负责在中国的驻华销售办事处及售后服务中心，专业从事X-射线散射及衍射结构分析类仪器及相关配件、耗材在国内推广、销售及研发与生产，我们经过不懈努力向客户提供全集成的，高附加值的全方位解决方案。
我公司目前的主要产品为X-射线散射及衍射专业领域的所有应用产品，主要包括全套单晶衍射仪（XRD）、粉晶衍射仪（XRD），小角广角X射线散射仪（SAXS/WAXS）,及配套的高低温设备，高压设备，拉伸装置，X-光强度测试仪，各种配套用测角仪和样品台，最新性能的探测器等全系列X射线结构分析类产品。
仪器设备的应用范围包括从基础研究到工业质量控制的材料性能表征，涉及元素分析、材料研究、结构分析等领域。我们通过提供高精密度、高分辨率的仪器设备来保证包括化学化工、冶金、石油、材料、制药、半导体、生命科学、纳米技术的企业客户和学术研究单位对单晶及粉晶的结构分析及各类材料的小角广角散射分析的高端及创新型的科研需要。
-对新型化合物、 催化剂、 医药, 天然产物，蛋白质，核酸等需明确表征分子的三维（3D）原子结构的结构分析等。
-无机晶相，有机晶相，多功能材料等的物相定性、定量分析，矿物的X射线定性、定量分析等。
- 纳米结构分析（形状、尺寸和内部结构），分散稳定性，颗粒成核现象，孔隙度（比表面），结晶度和取向，溶液中的生物大分子 (Bio-SAXS)，纳米结构表面 (GISAXS)等。
我公司以提供一流的诚信、质量、效率为追求目标，以高新技术为依托，本着“信誉第一、客户至上”的原则，提供专业的产品、 技术服务与支持，满足客户日益复杂化和多样化的需求。
