膜厚测试仪
2000年前后,国内电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应国际贸易和质量体系认证的需求,许多企业工厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。经过10多年的努力, 现在的x荧光膜厚测试仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被全世界电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
膜厚测试仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金.
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.
双镀层：其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
联系人: 舒翠
手机: 13602568074
电话: 0755-29371655
传真: 0755-29371653
邮箱: sc@kinglinhk.net
地址: 宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502
金霖电子（香港）有限公司，是检测仪器设备供应商及服务商。专业代理世界著名品牌仪器设备，在全球膜厚测量领域独领风骚，是镀层厚度测量和材料测试仪器领域公认的领导者,通过旗下12家子公司和32个在不同国家的代表处活跃于全球，在香港经营多年，在科研机构、高等院校，线路板、五金电镀、汽车制造、卫浴、连接器、钟表、珠宝首饰领域拥有大量的客户群，让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标。
| 单位名称： |
|
详细地址：
深圳市沙井北环大道新桥综合大楼502
|
|
qq：
2735820760
|
|
联系电话：
0755-29371655
|
| Email： |
