Bruker原子力显微镜-- Dimension Edge
 
Bruker公司的AFM具有多项技术，以其卓越的性能广泛应用于科研和工业界各领域
Dimension Edge原子力显微镜采用了布鲁克的一些创新技术，达到了同类产品的zui高水平，为纳米尺度的科学研究提供了高效率、高性价比的强大工具。
 
应用：
应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。
 
原理：
将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针jian，针jian与样品表面轻轻接触，由于针jianjian端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针jian的微悬臂将对应于针jian与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
原子力显微镜的工作模式是以针jian与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。
 
特征：
u 低漂移和低噪音水平
u 闭环设计--的传感器设计使Edge的闭环扫描的噪音水平达到了开环扫描的水平
u 开放设计的样品台适用于各种实验和不同尺寸的样品
u 集成化的样品台既可以进行直观的移动也具有很强的可编程功能控制
u 集成可视反馈和预先配置的参数设定，使初学者也可以简单连续地得到专家级的数据
 
 
部分选择项：
 
参数：
X-Y扫描范围：            90µm x 90µm（标准）, 85µm （zui小）
Z扫描范围：              10um（标准成像与压力模式），9.5um（zui小）
垂直噪声：                <50pm的RMS在适当的环境中，标准的成像带宽（高达625赫兹）
X-Y噪声（闭环）：         ≤0.5 nm RMS，标准成像带宽，(可达625 Hz)
Z噪声（闭环）：           ≤0.2 nm RMS，标准成像带宽，(可达625 Hz)
样品大小：                真空吸盘150mm，厚度 ≤15mm（加选件可达40mm）
电动定位平台（X-Y）：      150mm × 150mm 检测区域;可编程多点编程；
光学显微镜：              500万像素的数码相机;
                          180微米至1465μm可视面积;
                          数码变焦和机动焦点
信号接入：                配置I / O信号接入控制器内置；包括定制的信号路由，数字反馈，双数字锁定
单点光谱：                三轴闭环控制点定位，内置参数校准装置
信号温度控制：            -35至+250°C，可选加热器/冷却器配件，包含气体净化能力