光谱/分光光度计

绝对反射率测量系统

基本信息
产品名称:
绝对反射率测量系统
英文名称:
国产/进口:
进口
产地/品牌:
日本/JASCO 日本分光
型号:
ARMV734/735
参考报价:
面议
总点击数:
1193
更新日期:
2016-09-13
产品类别:

性能参数

绝对反射率测量系统

概要

  自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角,一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件,半导体,薄膜,光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定,受光角通过滑动积分球控制。另外,能用非同步方式分别设定入射角和受光角。而且,根据任意设定P偏光和S偏光角度,能研究样品的偏光特性。

可选择用在紧凑的中型机种V-600系列紫外可见近红外分光光度計上,也可以选择用在适合高分辨率,高吸光度测量的V-7000系列紫外可见近红外分光光度计上。

 

◆装置特点

・PC直接控制设定角度及光谱测量等条件
・测量范围广,从紫外到近红外区域
・双光束光学系统,测光稳定性好
・可分别控制入射角、受光角
・标配偏光测量功能
・专用的样品池支架,样品的装卸简单

 

规格

ARMV-734/ARMN-735 自动绝对反射测量组件V-600用)

型号

ARMV-734

ARMN-735

测定波长范围

250~850nm

250~2000nm

测量方式

测量绝对反射率、测量透过率

入射角

5°~ 60°(测量绝对反射率)、0°~ 60°(测量透过) 0 ~ 85℃(大入射角样品支架、选项)

角度间隔

0.1°间隔

设定方式

同期、非同期(入射部和受光部)

测量偏光

S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意设定

ARMV-734用于V-650,660ARMN-735用于V-670

 
公司简介

JASCO日本分光拥有世界最尖端技术的光谱及色谱分析仪器。2014年度诺贝尔物理学奖获得者使用仪器厂商。佳司科(上海)贸易有限公司/沈阳佳士科商贸有限公司是JASCO日本分光(株)产品的中国分公司。佳司科(上海)贸易有限公司是JASCO日本分光设在中国上海的办事处。沈阳佳士科商贸有限公司,是JASCO公司中国东北地区的办事处,主要负责JASCO日本分光株式会社制分析仪器在中国区域销售及相关事务。
JASCO日本分光1958年成立,至今已有60年的历史。拥有世界最先进的光谱和色谱仪器,创始成员包括世界著名的物理学家藤冈教授及诺贝尔奖得主朝永振一郎。如今JASCO开发研制的全光谱范围的仪器主要包括,光谱仪:傅立叶变换红外光谱仪FT/IR,激光拉曼光谱仪Raman,紫外/可见/近红外分光光度计UV-Vis/NIR,圆二色光谱仪CD,荧光光谱仪FP,全自动数字旋光仪等,色谱仪:超高压液相色谱仪X-LC,高效液相色谱仪HPLC,超临界萃取/色谱仪SFE/SFC等。此外,JASCO在圆二色光谱仪的研究,开发,应用等领域中居于世界领先地位。

1975年JASCO以光学设计和计算机技术为基础研制开发了HPLC(高效液相色谱仪)光学检测器。为了满足HPLC市场的需求,JASCO还连续开发出了溶剂的输送系统(输液泵),梯度洗脱系统及全系列的光学检测器。如今,JASCO日本分光已具有30多年高效液相色谱仪的研发和技术创新的经验,能够满足社会各界全方位的应用需要。
 2014年度诺贝尔物理学奖获得者日本名古屋大学的赤崎勇,天野浩以及美国加州大学圣巴巴拉分校的中村修二,主要表彰他们在发明一种新型高效节能光源方面的贡献,即蓝色发光二极管(LED)。他们所使用的仪器为我司的分光仪器。这足能证明我们公司产品拥有世界最尖端的技术水平。

JASCO遍及全世界的销售,服务网络给广大用户提供了全方位的支持,包括教育,产业,质量控制,研究开发等各个领域。


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