半导体芯片缺陷检测设备
产品概述
该设备采用直线电机、音圈电机和伺服电机多轴混合控制,及缺陷识别软件配合,实现了
高速、高精度的分拣及缺陷检测和分类,效率时超过10000UPH。
单位名称: |
详细地址:
海淀区-中关村南大街9号-理工科技大厦200*
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