日本JIMA RT RC-04 x射线分辨率测试卡
JIMA RT CT-04分辨率测试卡
X射线分辨率测试卡
JIMA RT RC-04
采用半导体技术,实现了从10 μm到0.1 μm纳米级的23种线和空间。具有纳米焦点和微焦点分辨率的x射线成像系统需要MicroChart来维护和检查其能力和日常校准。
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 5mm
芯片尺寸(W x D x T):5 x 5 x 0.015mm
图案布局:T型
线/空间尺寸:32种规格图案
0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,
0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm
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详细地址:
北京市朝阳区裕民路12号E1座1038
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