Dataray Beam'R2扫描狭缝光束质量分析仪
| 型号 | Beam'R2 – XY Scanning Slit Beam Profiler | |||
| CCD材料 | Si | Si + InGaAs | InGaAs | Si+InGaAs (extended) |
| 波长范围 | 190 to 1150 nm | 650 to 1800 nm | 190 to 1800 nm | 190 to 2300 or 2500 nm |
| 探测尺寸 | 5 µm to 4 mm‚ 最低2 µm(刀口模式) |
10 µm to 3 mm‚ 最低2 µm(刀口模式) |
10 µm to 3 mm‚ 最低2 µm(刀口模式) |
10 µm to 2 mm‚最低2 µm(刀口模式) |
| 分辨率精度 | 0.1 µm或扫描范围的0.05% | |||
| 刷新频率 | 5Hz | |||
| 测量激光类型 | CW;脉冲激光器,Φµm≥[500 /(激光直径µm)(PRR以kHz为单位)] | |||
| 动态范围 | 1000:1可调范围 | |||
| 最大功率或辐照度 | 1 W或0.5 mW / µm² | |||
| 系统要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port | |||
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详细地址:
上海市闵行区剑川路940号B幢3层
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