Dataray Beam'Map2扫描狭缝光束质量分析仪
型号 | Beam'Map2 – XY Scanning Slit Beam Profiler | |||
CCD材料 | Si | Si + InGaAs | InGaAs | Si+InGaAs (extended) |
波长范围 | 190 to 1150 nm | 650 to 1800 nm | 190 to 1800 nm | 190 to 2300 or 2500 nm |
探测尺寸 | 5 μm to 4 mm? 2 μm(刀口模式) |
10 μm to 3 mm? 2 μm(刀口模式) |
10 μm to 3 mm? 2 μm(刀口模式) |
10 μm to 2 mm? 2 μm(刀口模式) |
分辨率精度 | 0.1 μm或扫描范围的0.05% | |||
刷新频率 | 5Hz | |||
测量激光类型 | CW;脉冲激光器,Φμm≥[500 /(PRR以kHz为单位) | |||
动态范围 | 1000:1可调范围 | |||
功率或辐照度 | 0.5 mW / μm2 | |||
系统要求 | Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
单位名称: |
详细地址:
上海市闵行区剑川路940号B幢3层
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