光谱/分光光度计

激光诱导击穿光谱分析仪(LIBS)

基本信息
产品名称:
激光诱导击穿光谱分析仪(LIBS)
英文名称:
LIBS
国产/进口:
进口
产地/品牌:
美国LIBS
型号:
元素分析-激光诱导击穿光谱分析仪(LI
参考报价:
总点击数:
1561
更新日期:
2015-11-25
产品类别:

性能参数

 LIBS(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy是元素分析的前沿技术,通过使用高能量的聚焦脉冲激光束照射物质表面,使得照射点的材料被烧蚀剥离并形成纳米粒子云团,纳米粒子云团吸收高能量激光从而产生等离子体,等离子体使得纳米粒子熔化并激发其原子发光,发出的光的波长与元素的种类有关,光密度与元素的浓度有关,通过探测器对发出的光信息进行收集分析,便可实现元素的定性定量分析。

 

产品简介:美国LIBS

LIBS功能特点:

1、 定性范畴:真正的全元素分析,从H-U

2、 定量范畴:10ppm-W%

3、 分析时间:5秒-20秒

4、 样品范畴:所有固态基样品

5、 样品制备及形态;无需制样及准备,任意形态。

6、 不同元素的检测限

Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca等元素 >10ppm (0.001%)

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo等元素 >100ppm (0.01%)

C, N, O, P, Si等元素 >200ppm (0.02%)

 

F, Cl, Br, S等元素 >0.5%

 

 

公司简介

            赛普思(香港)科技有限公司(SPS)为一家注册于香港的高科技公司,下属深圳赛普思科技有限公司全资子公司。公司致力于从欧美引进国际领先的材料分析检测设备及技术,从事包括材料的元素、成分、晶体结构、微观形貌、缺陷、残余应力等层面的检测分析,提供材料的整体解决方案。
公司旗下主要产品包括激光诱导击穿光谱分析仪(LIBS),激光拉曼光谱分析仪(Raman),粉末X射线衍射仪(P-XRD),X射线荧光-X射线衍射联用仪(XRF-XRD),多功能电子显微镜(TEM-SEM-STEM-ED),超声波扫描显微镜(SAM),X射线衍射应力分析仪等。
专业塑造品质,诚信铸就未来,SPS为您提供最专业的材料分析方案。


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