AFM轻敲Tapping探针：Arrow NCR
基本信息
产品名称：
AFM轻敲Tapping探针：Arrow NCR
英文名称：
国产/进口：
进口
产地/品牌：
瑞士/nanoworld
型号：
Arrow NCR
参考报价：
销售商：
总点击数：
4451
更新日期：
2024-10-28
产品类别：
性能参数
A R R O W ™硅 A F M 探 针
独特的箭头形状，针尖视界的最大化 ，定位更容易
Arrow™ - Non-contact / Tapping™ mode - Reflex coating
概况
• 用于高分辨扫描成像的SPM、AFM探针
概况
• 用于接触式、动态式的宽范围应用的SPM、AFM探针
• 适合于所有著名商业SPM和AFM
• 氮化硅悬臂和针尖
• 耐热Pyrex派热克斯玻璃做的支架支撑着悬臂
• 我们把支架一个一个地分开传送，以便易于操作
材料特点
• 用低应力氮化硅为了悬臂最低的弯曲
• 完好硬度为了耐久性和延长的使用期
悬臂
• 四个长方形悬臂或四个三角形悬臂设计
• 在悬臂背面上带反射铬/金涂层
• 应力补偿的；弯曲在2°下
支架
• 耐热Pyrex派热克斯玻璃做的支架 (3.4 mm x 1.6 mm x 0.5 mm)
• 单一支架易于操作
针尖
• 氧化削尖的角锥状的探针针尖
• 针尖高度为 3.5 µm，针尖曲率半径典型< 10 nm
• 探针的宏观半锥角35°
包装规格
• 装 20、50个扫描探针的小包装
公司简介
北京伊微视科技有限公司是一家专注于提供先进显微、膜厚测量以及光电测试设备的企业。
我们致力于为客户提供全面的显微设备，涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。
此外，我们还提供专业的薄膜测量设备，包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪，以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。
在光电测量设备领域，我们正在不断拓展我们的产品线，已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。
尺有所短寸有所长，每一个品牌，每一台设备亦如此。在客户的需求上，提供最适当的解决方案，是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商，更是为客户提供全方位解决方案的合作伙伴。
我们致力于为客户提供全面的显微设备，涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。
此外，我们还提供专业的薄膜测量设备，包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪，以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。
在光电测量设备领域，我们正在不断拓展我们的产品线，已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。
尺有所短寸有所长，每一个品牌，每一台设备亦如此。在客户的需求上，提供最适当的解决方案，是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商，更是为客户提供全方位解决方案的合作伙伴。
售后服务
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联系方式
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详细地址：
北京市北京经济技术开发区经海四路35号院1号楼4层404-1
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