S8000超高分辨场发射扫描电镜
基本信息
产品名称：
S8000超高分辨场发射扫描电镜
英文名称：
S8000 FE-SEM
国产/进口：
进口
产地/品牌：
TESCAN
型号：
S8000 FE-SEM
参考报价：
面谈
销售商：
总点击数：
3676
更新日期：
2026-04-01
产品类别：
性能参数
S8000 系列（NEW ! ）S8000 FE-SEM
全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。
S8000 FE-SEM的优点：
TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam™镜筒，实现了无磁场超高分辨成像，可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。
另外，EquiPower™透镜技术可有效减少能量损耗并保证电子镜筒的稳定性。
BrightBeam™电子光学镜筒及探测器系统
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)
配备最新的多种探测器，更好的表面灵敏度和对比度
S8000可配置最新的多种探测器，包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector，可选择不同角度和不同能量来收集信号，体现更多种类的信息，同时获得更好的表面灵敏度和对比度。
设备咨询电话：
18263262536（微信同号）；
0632-5976067
QQ：2633643337；
全新设计的S8000超高分辨场发射扫描电镜可以提供无与伦比的图像质量，具有强大的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于高端的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。
S8000 FE-SEM的优点：
- 新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力
- 首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析
- 配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面
- 配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境
- 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并独家实现与Raman联用
TESCAN S8000配置了最新的BrightBeam™镜筒，实现了无磁场超高分辨成像，可以最大化的实现各种分析，包括磁性样品的分析。新型镜筒中的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率，特别适合对电子束敏感样品和不导电样品的分析。
另外，EquiPower™透镜技术可有效减少能量损耗并保证电子镜筒的稳定性。
BrightBeam™电子光学镜筒及探测器系统
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)
配备最新的多种探测器，更好的表面灵敏度和对比度
S8000可配置最新的多种探测器，包括透镜内Axial detector 以及 Multidetector，可选择不同角度和不同能量来收集信号，体现更多种类的信息，同时获得更好的表面灵敏度和对比度。
设备咨询电话：
18263262536（微信同号）；
0632-5976067
QQ：2633643337；
公司简介
公司自成立以来就一直专注于半导体、微组装和电子装配等领域的设备集成和技术服务；目前公司拥有一支在半导体制造、微组装及电子装配等领域经验丰富的专业技术团队，专业服务于混合电路、光电模块、MEMS、先进封装（TSV、Fan-out等）、化合物半导体、微波器件、功率器件、红外探测、声波器件、集成电路、分立器件、微纳等领域。我们不仅能为客户提供整套性能可靠的设备，还能根据客户的实际生产需求制订可行的工艺技术方案
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