布鲁克台阶仪Dektak|Bruker|探针式轮廓仪
应用：
纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量，应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域
原理：
当触针沿被测表面轻轻滑过时，由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时，还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。传感器输出的电信号经测量电桥后，输出与触针偏离平衡位置的位移成正比的调幅信号。经放大与相敏整流后，可将位移信号从调幅信号中解调出来，得到放大了的与触针位移成正比的缓慢变化信号。再经噪音滤波器、波度滤波器进一步滤去调制频率与外界干扰信号以及波度等因素对粗糙度测量的影响。
根据使用传感器的不同，接触式台阶测量可以分为电感式、压电式和光电式3种。
特征：
- 台阶高度重复性优于5埃（<5 Å）
先进的“智能化电子器件”实现了低噪声的新标杆
操作简便，高效易用
直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程
独特的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量
自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针
台阶仪Dektak XT能实现：
1、 使用温度条件：10-30℃；
2、台阶高度重现性低于4埃
3、Single-arch设计提供扫描稳定性
4、“智能电子器件”设立了新低噪音基准
5、新硬件配置使数据采集时间缩短
6、64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度高了10倍
7、频率，操作简易
8、直观的Vision64用户界面，操作简易
9、针尖自动校准系统
10、布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能
11、单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围
公司网址：www.tengxin-ch.com
联系方式：howie Lou 13122976482
螣芯电子科技有限公司主要为半导体、微组装领域的客户提供设备集成和技术服务。目前公司拥有在半导体制造、微组装领域经验丰富的专业技术团队，主要服务于：
半导体工艺：磁控溅射/电子束蒸发/PECVD/光刻/ICP/RIE/晶圆键合机/涂胶/显影/去胶设备
半导体检测：晶圆AOI/AFM/台阶仪/三维光学轮廓仪/扫描电镜/薄膜应力设备/光刻胶厚度测试仪设备
封装工艺：粘片/引线键合/平行封焊/共晶烧结炉/等离子清洗设备
封装检测：x光机/推拉力测试仪/氦检漏仪/AOI设备
螣芯电子科技秉承为客户提供优质技术产品方案，不断优化业务结构和提升服务品质，持续为客户提供高品质服务。
| 单位名称： |
|
详细地址：
上海市青浦区保安路104号
|
|
qq：
1029292366
|
|
联系电话：
华东总部：13122976482 华中办事处（江西
武汉
湖南）：17717373309
|
| Email： |
