OPTM series 嵌入型
利用显微微分光膜厚计OPTM series的高精度、微小光点,在线提供制作晶片图案后的微小区域测量等膜厚信息。
●膜厚测量范围1nm~92μm(换算为SiO2)
●膜厚值高重复精度
●1点1秒以内的高速测量
●最小小点Φ3μm)中瞄准模式
●最适合图案晶片的膜厚映射
●能够取得图案对准用图像
装置组装示意图

测量数据示意图

测量光点周边图像

适应过程示例
CMP工艺
蚀刻工艺
成膜工艺等
式样
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详细地址:
上海市浦东新区叠桥路456弄创研智造C7区301室
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