分光干涉式晶圆膜厚仪 SF-3

型号：

产地/品牌：日本/大塚

销售商：上海波铭科学仪器有限公司

分光辐射照度测量系统

型号：

产地/品牌：日本/大塚

销售商：上海波铭科学仪器有限公司

分光配光测量系统 GP series

型号：

产地/品牌：日本/大塚

销售商：上海波铭科学仪器有限公司

OPTM series 嵌入型

型号：

产地/品牌：日本/大塚

销售商：上海波铭科学仪器有限公司

S-EL系列电致发光系统

型号：S-EL系列

产地/品牌：

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Photo Research成像亮度计

型号：PR650、PR670

产地/品牌：

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S-AS系列常规样品反射、吸收系统

型号：S-AS系列

产地/品牌：

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S-MRS系列漫反射率测试系统

型号：S-MRS系列

产地/品牌：

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S-LENS系列镜头透过率测试系统

型号：S-LENS系列

产地/品牌：

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S-Fluo系列组合荧光系统

型号：S-Fluo系列

产地/品牌：

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S-MPL系列显微荧光系统

型号：S-MPL系列

产地/品牌：

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QE-2000荧光量子效率测试系统

型号：QE-2000

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S-ES系列常规发射光谱系统

型号：S-ES系列

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SERS增强试剂

型号：SERS

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光谱变温附件/探针台

型号：

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S-DSR探测器光谱响应度测试系统

型号：S-DSR

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S-LBIC显微光电流成像系统

型号：S-LBIC

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太阳光模拟器

型号：Oriel Sol3A

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太阳能电池量子效率测试系统

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瞬态吸收系统

型号：

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