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显微学校准、测试和参照物质标样的介绍

2023-11-22     来源:本站     点击次数:1092

荷兰Micro to Nano(简称M2N)供应的校准标样,是校准各种显微镜和X射线分析系统不可或缺的工具。只有经过校准的仪器才能产生精确的数据。本文介绍扫描电镜SEM、聚焦离子束双束电镜FIB-SEM、透射电镜TEM、能谱仪EDS/波谱仪WDS、光学显微镜LM和数字成像系统的可用校准标样和标准物质。这些多功能、精准制作且价格合理的校准标样及标准物质,可实现显微学领域的校准。

一. 用于SEM、FIB、FESEM、桌上型SEM的标样
1.1)MCS-1和MCS-0.1可溯源或已认证的高放大倍率校准标样:
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1.2)MTC-5四图案(圆环、方框、六角和十字)光栅校准标样用于中低放大倍率校准,可溯源:
 
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1.3)LAMC-15可溯源的低放大倍率/大面积校准标样:
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1.4)M-1和M-10可溯源的栅格图案校准标样,格子间距分别为1µm和10µm:
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1.5)碳喷金分辨率测试标样:
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1.6)碳基锡球分辨率测试标样:

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二. 用于SEM/EDS/WDS的标样
2.1)EDS/WDS紧凑型校准标样,铜光阑法拉第杯居中的铝质样品桩(钉台)上分布5种物质标样:
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2.2)EDS/WDS定量分析参照物标样,铜光阑法拉第杯居中的Ø25.4 x 9 mm不锈钢圆台上分布多种物质标样:18/21种稀土,或36种金属,或32种金属/金属化合物+4种盐类化合物,或40种矿物,或27种单质+5种化合物+8种矿物;以及CL(阴极荧光)测试、光谱峰值解卷积测试、拉曼矿物分析等应用的参照物质标样:
 

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2.3)用于EDX系统和BSE探测器的EDX检测器,可快速简便地对EDX系统进行校准和分辨率检查:
 

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2.4)用于束流测量的法拉第杯:

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三. 用于TEM-TEM/EDS的标样
3.1)TEM分辨率标样:
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3.2)TEM测试标样:
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3.3)TEM EDS校准标样:

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3.4)MAG*I*CAL可溯源TEM校准标样:
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四. 用于AFM-SPM的标样
4.1)AFM TipCheck标样:
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4.2)AFM XYZ标样:
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4.3)HOPG标样:

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五. 用于LM光学显微镜及数字成像的标样
5.1)物台测微尺和分划板,用于LM光学显微镜的校准和测量的精密载物台千分尺,可选附认证证书:
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5.2)可溯源的高对比度硅基单十字或一字线校准标样,适用于低放大率、大面积、显微镜载物台和数字成像系统:

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5.3)MTC-5四图案(圆环、方框、六角和十字)光栅校准标样用于中低放大倍率校准,可溯源:

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5.4)M系列校准载玻片(测微尺和目镜分划板):

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