能量色散X荧光光谱仪EDX9000B应用于地球化学样品的成分分析
随着地球勘探工作的开展和区域地球化学调查工作的开展，对地质实验的检测分析提出了许多有针对性的要求，同时也面临着复杂的分析检测任务。地质实验室分析所需的对象和任务分析测试方法检出限低、检测范围广、准确度和精密度高。地球化学样品的成分分析方法包括传统化学分析法、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）和电感法。耦合等离子体质谱（ICP-MS）、原子吸收光谱（AAS）、X射线荧光光谱（XRF）等方法。化学分析方法虽然仪器使用简单，但对操作技术要求高，相对繁琐使用。酸、碱等化学试剂分析过程长，难以满足日常生产的需要。同样，ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光谱在样品前处理过程中也普遍使用大量化学试剂，造成环境污染。荧光光谱仪EDX9000B具有样品前处理简单、分析周期短、重现性好、多元素同时测定、测试成本低等优点。由于XRF是表面分析技术，X射线强度随粒径变化而变化样品和样品的不均匀性。变化产生颗粒效应，化探样品成分复杂，成分含量低，样品难以研磨至500目以下，影响粉末压缩XRF法测量的准确度和精密度。因此，我们采用玻璃熔制切片法解决了基质效应和矿物效应对试验的干扰，获得了良好的检测精度和检出限。