介电常数和介电损耗是衡量高介电材料最重要的两个指标，我们采用宽频介电谱仪，在250 C条件下，从101}106Hz对复合材料的介电常数和介电损耗进行测量。我们对制备出的CCTO纳米线和己有的CCTO纳米颗粒的两种复合材料的介电常数、介电损耗和电导率进行了测量比较。如图2.8

体积分数7.5%的复合材料介电常数的增大也可以用界面极化来解释，界面极化是复合材料中的电荷在无机填料与聚合物基体中的界面处积累造成的，与填料和聚合物的介电差异、接触面积有很大关系，体积分数为7.5%的复合材料有着很好的分散性，从而增大了与界面的接触面积，促进了界面极化的发生，使得界面极化增加，提升了整个材料的介电性能。

通过对比制备的CCTO纳米线和CCTO纳米颗粒复合材料的研究，可以明显发现二者在介电性能方面存在着差别。如图2.8

CCTO纳米线相比于CCTO纳米颗粒变现出的优异介电性能完全与其材料结构相关，线型结构在介电性能上的表现在很多材料都由于颗粒，良好的分散性和较大的接触面积让形成界面极化的难度降低，从而提升整个材料的极化强度。

关键词：介电常数测试仪，介电常数介质损耗测试仪，介质损耗因数测试仪，介质损耗角正切值测试仪