PhenoTron®-HSI 高分辨率植物表型高光谱成像分析技术方案分享
2025-09-05 来源:本站 点击次数:55
PhenoTron-HSI高分辨率植物表型高光谱成像分析系统由高光谱成像系统、扫描平台及高光谱表型分析软件组成，高光谱分辨率和空间分辨率，可用于植物高通量表型分析、种质资源检测鉴定、中药材高通量表型检测与品质鉴定等。其主要技术指标如下：
方案1:
方案2:
方案1:
- SpectraScan扫描平台，样品盘100x50cm（用于种苗、种子萌发等成像分析），高度可调范围50cm，最大扫描速度500mm/s，包括光源、数据采集软件、校准板等；可选配扫描行程最大达190cm的扫描成像台架，可俯视、侧视扫描成像。可客户定制不同规格或其它类型扫描成像平台（主机系统）
- 高光谱成像：
- 可选配高分辨率RGB成像或Thermo-RGB成像
方案2:
- 著名表型成像分析技术公司PSI标配高光谱扫描成像平台系统，188cm（长）x 68cm（宽）x 110cm（高），成像面积范围140x40cm，可选配其它规格大小
- PlantScreen高光谱成像分析软件
- 高光谱成像波段范围：380-900nm
- 光谱分辨率（FWHM）：0.8nm
- 空间分辨率：1000像素
- CMOS成像检测器，1920x1000像素，5.86µm像素大小，4.8mm焦距
- 可选配900-1700nm高光谱成像，光谱分辨率（FWHM）2nm，InGaAs检测器，分辨率640x512像素
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