在制造行业中,膜厚测量几乎出现在所有关键环节:
从金属镀层、表面涂层处理到精密零件加工,再到电子与半导体材料品质控制,膜层厚度的精确性直接影响产品性能与可靠性。
然而,传统的手动测量方式往往效率有限,也容易产生人为差异。面对高节奏、高良率的产线需求,
如何高效快速且准确地获取样品及工件的膜层厚度,是当下质量控制中越来越关注的问题。
在许多工厂中,手动膜厚测量仍然是主流方式,但它存在一些不可忽视的问题:
- 操作者手法不同,导致重复性差
- 需要长时间反复操作,劳动强度高
- 测量节奏难以保持一致
- 数据需要手工记录,容易出现错误
为应对手动测量的局限性,
徕卡Enersight软件平台推出半自动膜厚测量工具,鼠标快速划过,即可自动识别膜层边界,快速给出不同位置厚度数值,以及最大厚度、最小厚度、平均厚度等。


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