为了进一步了解应变重新配置过程,通过 XRD 和 GIXRD 测量研究了组合蒸发的 CsSnI3 中应变分布的变化情况(图b、c)。在共蒸发过程之后,作为连续蒸发过程的第一步,是沉积 SnI2(图 1方法)。在此阶段,底层共蒸发层的 XRD 图谱被 SnI2 的衍射所掩盖(图 3c)。在随后的 CsI 覆盖步骤(样品结构:30 纳米共蒸发层/25 纳米 SnI2/x 纳米 CsI,其中 x 表示 CsI 厚度)中,随着 CsI 厚度达到 10 纳米,CsSnI3 的衍射峰出现并变得更加明显(图 3c)。在组合蒸发的 CsSnI3 上观察到应变重新分布现象,以及后续的退火过程。经过退火处理后,样品的结晶度得到了提高。在连续沉积和退火步骤中,组合蒸发样品中的应变重新配置过程如图 b、c 所示。单独沉积 SnI2 层并未被发现能促进钙钛矿的形成。在随后沉积 CsI 的过程中,底部界面最初形成了轻微的压缩应变。随着 CsI 沉积厚度的增加,这种应变逐渐松弛,并转变为弱拉伸应变。同时,靠近顶部表面的拉伸应变随着 CsI 厚度的增加而增强(从 0.12% 增加到 0.52%)。在 150°C 下进行 30 秒的短暂退火后,样品中的拉伸应变大幅降低。经过 10 分钟的退火后,样品界面处的拉伸应变完全松弛,而内部区域则出现了压缩应变(图 3b、c)。研究团队发现,组合蒸发的 CsSnI3 中的应变分布对衬底的选择相对不敏感。
基于CsSnI3 的 PeLED(光电发光二极管)采用的结构为lass/indium tin oxide (ITO)/poly(3,4-ethylenedioxythiophene): poly(styrene-sulfonate) (PEDOT:PSS)/perovskite (CsSnI3)/1,3,5-tris (N-phenylbenzimidazol-2-yl) benzene (TPBi)/lithium fluoride (LiF)/aluminium (Al)(图 5a、b)。基于依次蒸发、连续蒸发和组合蒸发的 CsSnI3 的 PeLED 显示出在 929 nm、946 nm和 944 nm处的电致发光峰。基于蒸发态 CsSnI3 的 PeLED 的特性如扩展数据图所示。蒸发态 CsSnI3 的组合蒸发、依次蒸发和组合蒸发的 PeLED 的外部量子效率(EQE)分别为 1.1%、5.1% 和 6.6%,这意味着光提取效率约为 25%。通过使用光学透镜结构,研究团队组合蒸发的 CsSnI3 PeLED 的 EQE 提高到了约 11%(在 280 mA cm-2时),这代表了在高电流密度下工作的部分最高效的锡基近红外 PeLED。
本文研究了 CsSnI3 型光电二极管(PeLED)的运行稳定性,实验记录了完整的T50 寿命数据。在 100 mA/cm² 的高电流密度下,共蒸发的 CsSnI3 和依次蒸发的 CsSnI3 PeLED 的 T50 寿命分别测量为 63.5 小时和 27.5 小时(图 5c)。相比之下,以 100 mA/cm² 驱动的组合蒸发的 CsSnI3 PeLED 的 T50 寿命测量值约为 1250 小时,比在 100 mA/cm² 电流密度下最稳定的铅基 PeLED(256 小时)高出约 5 倍,比最稳定的无铅 PeLED(39.5 小时)高出约 31 倍。在 50 和 25 mA/cm² 的较低电流密度下,器件的 T50 寿命分别测量为 2000 小时和 3350 小时。在 200 mA/cm²、400 mA/cm²、600 mA/cm² 和 800 mA/cm² 的较高电流密度下,T50 寿命分别为 843 小时、270 小时、123 小时和 38 小时(图 5d)。特别是,本文设备的 T50 使用寿命(在 100 mA cm-2的电流下)优于目前最先进的有机 LED 和量子点 LED。组合蒸发的 CsSnI3 PeLED 的性能能够得到可重复的实现。这些实验和分析表明,顶部和底部界面应变水平最小的组合蒸发 CsSnI3 样品所制备的 PeLED 具有最长的 T50 使用寿命(在 100 mA cm−2的电流下可达 1250 小时)(图 f、g)。检测结果均由海洋光学的QE PRO完成
QE Pro是一款多功能、高灵敏度光谱仪,适用于常规应用和弱光信号的荧光和拉曼分析等应用。采用背照式CCD探测器具有高量子效率和板载缓存功能,以确保在高速采集中的数据完整性。可选的内置快门可有效控制暗噪音,可更换狭缝便于客户适配不同的应用场景。QE Pro包含定制和预配置型号。
我们也可以提供应用于量子效率测试的电致发光样品测试支架,包括底座、样品架以及积分球,底座可接入源表,可以通过调节样品架的位置和电压接入位点以实现样品不同位置的发光效率测试。
EQY量子效率测量系统一套综合了PL,EL测试功能为一体的OLED,量子点,钙钛矿等材料特性测试方案。