长期以来,科学成像领域的选型规则相对固定:极弱光实验首选EM-CCD,光子充足的环境则交给sCMOS。但这一规则正在被打破。
随着CMOS工艺在噪声抑制上的突破,搭载qCMOS(定量CMOS) 传感器的相机既保留了sCMOS的高速与大视野优势,又将读出噪声压低至光子计数水平,开始向EM-CCD的传统领地延伸。本文将从传感器底层技术出发,对比两款相机在光子探测、信噪比表现及应用场景上的差异,帮助您基于实验需求做出更合理的判断。
一、从光子到数字:两种截然不同的探测路径
要理解两款相机的差异,首先需要梳理相机将光子转化为数字信号的全流程。
图1 从信号采集到数字输出的流程
入射到传感器的光子以一定量子效率转换为光电子,随后被放大、读取并经由模数转换器(ADC)输出为数字值。在这一链条中,读出噪声是决定弱光探测能力的核心瓶颈,尤其当信号微弱至单光子量级时,读出噪声的大小直接决定了信号是否能被有效识别。
qCMOS的解决方案依托于精细化的CMOS电路设计,将读出噪声压至远低于单光电子信号的水平。这使得相机能够清晰分辨1、2、3……个光电子对应的输出幅度,实现真正意义上的光子数分辨(Photon Number Resolving),这是定量成像的基石。
图2 qCMOS相机中的读出过程和光子分辨
而EM-CCD则走了另一条路径。其原始读出噪声较高,但通过内置的电子倍增结构,在信号被读出前对光电子进行雪崩式放大,使放大后的信号远高于读出噪声,从而探测到单个光子事件。
图3 EM-CCD中的读出过程和光子分辨(只能分辨0光子和有光子,无法分辨1/2/3/具体有几个光子)
但倍增过程会引入固有的过剩噪声(Excess Noise)——即信号幅度的随机波动。这使得即便信号被成功放大,也无法从输出值反推原始光电子数目。因此,EM-CCD虽能实现单光子探测,却牺牲了定量准确性。
表1 总结了本段中提到的qCMOS和EM-CCD相机的特性比较
在实际动态成像中,这种差异更为直观:qCMOS 由于无需倍增,逐帧之间的信号波动远小于EM-CCD,在需要追踪信号强度变化的实验中,定量稳定性显著更优。
视频1 以上为实际成像案例,对比展示了qCMOS相机与EM-CCD相机的拍摄效果。
二、信噪比(SNR)的比较
信噪比是评估相机探测能力的核心指标。但在对比不同像素尺寸的相机时,比较条件的设置会直接影响结论。本文从两种常见实验场景出发,采用“相对信噪比(rSNR)”进行归一化对比(基准为理想无噪声、100%量子效率、6.5 μm像素的“完美机”)。
图4 信噪比公式
场景一:单像素接收相同光强
该场景假设每台相机都搭配了针对其像素尺寸优化的光学系统。在此条件下:
- 对于CMOS系列相机(含qCMOS),读出噪声恒定,因此随着光强降低,SNR下降明显。
- 对于EM-CCD,电子倍增大幅削弱了读出噪声的影响,在极弱光下SNR下降趋缓;但倍增波动在亮光下成为主要噪声源,导致其高光强区SNR反而不及CMOS。
传统选型规则正源于此:弱光用EM-CCD,亮光用sCMOS。但值得关注的是,随qCMOS读出噪声的大幅降低,在0.1光子/像素/帧的极弱光条件下,其SNR已可比肩 EM-CCD。结论:在单像素等光强条件下,qCMOS已能覆盖传统EM-CCD的弱光阵地,且在中高光强区表现更优。
图5 每个像素的光强相等条件下的信噪比对比
场景二:单位传感器面积接收相同光强
该场景更贴近“固定光学系统、仅更换相机”的实际操作。由于qCMOS像素尺寸普遍小于EM-CCD,单像素接收光子更少,因此图中补充了启用像素合并(Binning)后的 qCMOS 数据,使其有效像素尺寸与EM-CCD相当。
需要特别指出:受CMOS读出架构限制,N×N合并后等效读出噪声会变为单像素的N倍。因此,若希望用qCMOS替代EM-CCD,更优策略是保持原生像素尺寸并重新匹配光学系统,而非依赖像素合并来强行对标。结论:固定光学系统下直接替换,qCMOS的单像素光通量劣势可通过重新设计光路来弥补,不建议以牺牲噪声为代价启用像素合并。
图6 单位面积光强相等条件下的信噪比对比
表2 两种对比条件的适用场景总结如下
三、qCMOS的多场景适配特征
过去在极弱光成像的系统设计中,往往需要在多项指标间做取舍:追求光子计数精度,则需接受低速与动态范围压缩;扩大面阵规模,则不得不容忍更高的系统本底噪声。qCMOS在以下维度统一了这一矛盾:
- 慢帧率定量成像:慢帧率定量成像光子数分辨能力,适配单分子等对定量误差极度敏感的场景
- 高帧率弱光兼顾:无需电子倍增,原生帧率显著高于EM-CCD;
- 宽动态范围保全:无电子倍增环节,满阱容量不受增益压缩,亮暗共存样本的灰阶过渡更完整;
- 大面阵宽场成像:ORCA-Quest的像素规模显著高于传统EM-CCD,可降低大视野扫描的拼图成本;
暗电流控制:在同级CMOS平台中处于较优水平,可覆盖多数常规长曝光实验需求。
四、EM-CCD当前的适用边界
在极窄的参数区间内,EM-CCD目前仍具工程合理性。
仿真数据显示,当入射光强降至0.1光子/像素/帧时,EM-CCD的理论信噪比曲线略高于qCMOS。但将该数值代入实际成像仿真后会发现:此照度下样品的结构信息已基本被噪声基底淹没,两台设备均无法输出具备解析价值的图像。
图7 不同光强下的仿真成像对比,展示0.1光子/帧时两者实际探测能力的局限
另一个易被忽略的因素是倍增的无差别特性:理想暗场中EM-CCD画面洁净;一旦样本存在自发荧光或环境背景光,背景信号同样被同步放大,暗区颗粒度反而会显著抬升。
目前仍建议保留EM-CCD方案的场景相对明确:照度低于0.1光子/帧,且依赖数十秒级以上的极长曝光做信号累积。依托深度制冷,EM-CCD在极限长曝下的暗电流控制目前仍具余量。
总结
qCMOS相机融合了sCMOS的高速与大视野,以及逼近甚至超越EM-CCD的弱光探测能力,在保持定量精度的前提下,为科学成像提供了一款更具通用性的解决方案。
CMOS技术仍在快速演进,qCMOS的性能边界也将持续拓宽。我们希望通过本文的技术对比,帮助您在光子计数探测器的选型中建立更系统的评估框架,从而找到最契合自身实验需求的那一台相机。