智力障碍，在基因检测人群中患病率约为1%，分为综合征型与非综合征型两种。综合征型，常伴随特殊面容、躯体形态异常、多系统病变或其他神经系统疾病，而非综合征型仅表现单纯智力障碍。

近年来研究发现，一批参与信使RNA（mRNA）加工与代谢的基因与该病密切相关。NXF5（核 RNA 输出因子5）基因位于Xq22.1区域，在 mRNA 从细胞核转运至细胞质的过程中起到关键作用，是 mRNA 代谢通路的核心环节。 尽管其翻译起始位点位于16个外显子中的3号外显子，但已有研究证实，1号内含子处的基因断裂会导致NXF5的mRNA表达完全丧失。

目前全球仅报道的4例NXF5基因拷贝数变异（CNV）病例，该基因与 X 连锁智力障碍（XLID）以及自闭症谱系障碍（ASD）的关联性仍存争议，且小片段基因缺失极易受限于检测技术被漏诊，需补充新病例佐证其致病作用。

作者来自意大利卡洛·贝斯塔神经病学研究所，于2025年05月在Genes上发表题目为“A Patient with a Small Deletion Affecting Only Exon 1-Intron 1 of the NXF5 Gene: Potential Evidence Supporting Its Role in Neurodevelopmental Disorders”的文章。

本研究纳入1例伴智力障碍与自闭症谱系障碍的患儿，结合临床评估、影像学、实验室检测、分子细胞遗传学分析开展研究：

1. 临床与神经学评估：全面体格 / 神经检查、发育量表测评（Griffiths-III）、自闭症诊断访谈量表（ADI-R）评估；完成脑部磁共振成像（MRI）、清醒 / 睡眠脑电图（EEG）检查。

2. 常规实验室检测：检测血尿代谢物、血常规、肝肾功能、甲状腺功能、凝血功能等；完成脆性 X 综合征分子检测。

3. 寡核苷酸比较基因组杂交芯片（aCGH）分析：采用 180 K Oligo ISCA寡核苷酸基因芯片，以患儿外周血 DNA 与正常对照 DNA 进行竞争性荧光原位杂交。InnoScan 710激光共聚焦微阵列生物芯片扫描仪，对基因芯片进行荧光信号扫描和分析；根据荧光强弱与颜色判断基因组片段的扩增（绿色 Cy3）与缺失（红色 Cy5），精准识别微小拷贝数变异。

研究结果

• 临床表型：患儿存在中重度全面发育迟缓、语言严重缺损、典型 ASD症状，小头畸形；运动能力相对保留，其余常规实验室、影像、脑电图结果无显著异常，脆性 X 检测结果正常。

• 基因芯片检测结果：aCGH 检出患儿 Xq22.1区域存在约1.7~4.9 Kb 微小缺失，此缺失覆盖了核 RNA 输出因子5（NXF5）基因的1号外显子及部分1号内含子，造成该区域完全单倍体缺失。患儿母亲为该缺失杂合携带者，无任何临床症状，推测与 X 染色体失活模式相关。

图 A为 X 染色体整体图谱，以及本例患儿（蓝色轨迹）与患儿母亲（红色轨迹）发生基因失衡的Xq22.1区段；紫色线条标注出放大区域，橙色方框标示缺失片段。下方染色体区域为对应轨迹的放大视图，同时标注出NXF5基因的位置。
图 B为UCSC基因组浏览器呈现的微缺失区域，可见患儿NXF5基因的1 号外显子与1号内含子发生缺失，该区段表现为零体；患儿母亲则表现为单体。

结果表明

• NXF5基因1号外显子及1号内含子的微小缺失，会破坏基因转录、mRNA剪切与转运功能，最终引发X 连锁智力障碍合并自闭症谱系障碍。

• NXF5是Xq22.1区域神经发育障碍的重要候选基因，应纳入XLID 合并ASD的致病基因筛查范围。

• 低分辨率检测平台易漏检NXF5这类微小片段缺失，也是该基因变异病例报道偏少、关联性长期存疑的重要原因，需结合其他如微阵列生物芯片检测平台提高检出率。

因此，新增1例罕见NXF5微小缺失病例，补充了临床表型与基因变异数据，佐证NXF5参与神经发育障碍发病，进一步完善X连锁智力障碍的致病基因谱。InnoScan 710激光共聚焦微阵列生物芯片扫描仪可高灵敏度捕捉aCGH 基因芯片的荧光信号，精准识别kb级别的微小基因缺失，突破传统技术对小片段基因拷贝数变异的检测局限，证明了该设备适用于罕见微小基因组变异的临床与科研高通量筛选工作，提升神经发育障碍相关基因变异科研检出能力。

原文链接：https://doi.org/10.3390/genes16050571

Innopsys 成立于1999年，总部位于法国图卢兹，专注于激光共聚焦微阵列生物芯片扫描分析仪的荧光检测硬件和软件的自主开发与生产，全球装机客户超过600家。

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